[发明专利]一种测定钨钼矿中钨、钼含量的方法在审

专利信息
申请号: 202110939365.0 申请日: 2021-08-16
公开(公告)号: CN113466214A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 王晓飞;张文捷;洪欣;魏江州;李国;阳国运;梁晓曦;唐裴颖;何宇;闭道军;蒙宏培 申请(专利权)人: 桂润环境科技股份有限公司
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73;G01N1/44
代理公司: 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 代理人: 郑兴旺
地址: 530000 广西壮族自治区南宁市良庆区中国(广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 测定 钨钼矿中钨 含量 方法
【说明书】:

发明公开了一种测定钨钼矿中钨、钼含量的方法,具体涉及分析化学领域。所述方法包括试料加入聚四氟乙烯坩埚后,加水润湿;分别加入硫酸磷酸混酸、氢氟酸‑硝酸混酸后,于电热板加热;电热板加热保温后,冷却至150~160℃;加入硒‑酒石酸内标溶液,在电热板上继续加热至溶液澄清透明后取下冷却,得试液;向试液中加入732型阳离子交换树脂,振荡,于电感耦合等离子体发射光谱仪上进行内标法测定。本发明测定钨钼矿中钨、钼含量的方法能有效分解样品,磷酸根与钨、钼有效结合形成稳定络合物,防止水解,且在电感耦合等离子体发射光谱发测定中能消除记忆效应,降低检出限,提高测定效率。

技术领域

本发明涉及分析化学领域,具体涉及一种测定钨钼矿中钨、钼含量的方法。

背景技术

目前行业内针对钨钼矿石中钨、钼含量的测定,主要采用硫氰酸盐-分光光度法、重量法、熔融制样-X射线荧光光谱法、碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法等,各分析方法存在以下几个方面的问题:

①硫氰酸盐-分光光度法测钨、钼,目前该方法是钨钼矿石分析的主流方法。碱熔沉淀分离,操作较繁琐,干扰多、线性范围窄等问题,高含量样品测定准确度略差,大批量样品检测效率不高。

②重量法测钨、钼,主要测定高含量的钨和钼。该法适合钨精矿、钼精矿的分析,测定范围窄,操作流程长。

③熔融制样-X射线荧光光谱法测钨、钼。因钨、钼矿通常伴生硫化物,熔融制样易腐蚀铂金坩埚,需进行除硫处理,方能熔融,操作繁琐,效率不高。

④碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法测钨、钼。该法的灵敏度与分光光度法处于同一水平。样品用过氧化钠熔融,易腐蚀刚玉坩埚,坩埚上残留钨、钼不易清洗,测试过程中引入大量盐分,对电感耦合等离子体发射光谱仪的检测不利,且测定过程中受锌、铁、铝等干扰,需进行复杂的分离富集消除干扰,效率较低,制约了该法的应用。

发明内容

为此,本发明提供一种测定钨钼矿中钨、钼含量的方法,以解决现有技术测定钨钼矿中钨、钼含量检测准确度低、效率低、操作繁琐等问题。

为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

根据本发明的提供的一种测定钨钼矿中钨、钼含量的方法,所述方法包括以下步骤:

步骤一,试料加入聚四氟乙烯坩埚后,加水润湿;分别加入硫酸磷酸混酸、氢氟酸-硝酸混酸后,于电热板加热后保温;

步骤二,降温至150~160℃;加入硒-酒石酸内标溶液,在电热板上继续加热至溶液澄清透明后取下冷却至室温,得试液;

步骤三,向试液中加入732型阳离子交换树脂,振荡,于电感耦合等离子体发射光谱仪上进行内标法测定。

进一步的,所述硫酸磷酸混酸的比例为硫酸:磷酸=1︰3。

进一步的,所述硫酸的密度ρH2SO4=1.84g/mL;所述磷酸的密度ρH3PO4=1.69g/mL。

进一步的,所述氢氟酸-硝酸混酸的比例为氢氟酸:硝酸=1︰1。

进一步的,所述氢氟酸的密度ρHF=1.13g/mL;所述硝酸的密度ρHNO3=1.42g/mL。

进一步的,所述硒-酒石酸内标溶液为200μg/mL的硒和0.3%(v/v)的酒石酸。

进一步的,所述步骤一中,所述保温时间为30min。

进一步的,所述步骤一中,所述电热板加热的温度为250℃。

进一步的,所述步骤二中,所述电热板上继续加热的时间为5~10min。

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