[发明专利]一种物料清单的异常检测方法及其系统

说明书

本申请提供了一种物料清单的异常检测方法及其系统，解决了现有技术中对物料清单中的异常信息进行核对与检测时，耗时长、效率低，且容易出错的技术问题。通过获取物料清单中的数据，根据物料清单数据获取物料清单中目标检测项的目标检测项数据，当目标检测项数据与预设检测规则冲突时，说明目标检测项数据与设定的检测规则异常，则生成异常信息，从而能够快速、准确的对物料清单中的异常信息数据进行检测与核对，提高物料清单异常信息检测的效率。

技术领域

本申请涉及物料管理领域，具体涉及一种物料清单的异常检测方法及其系统。

背景技术

物料清单，简称BOM，是详细记录一个项目所用到的所有下阶材料及相关属性，母件与所有子件的从属关系、单位用量及其他属性，以数据格式来描述产品结构的文件。物料清单不仅是一种技术文件，还是一种管理文件，是联系与沟通各部门的纽带，企业各个部门都要用到BOM表。在电子元件生产厂商，通常利用一个电子元件材料清单进行组装电路板上的电子元件。该BOM表通常包括每种电子元件的名称、数量、规格等相关属性信息，通常下单之前需要对BOM表内的电子元件中的异常信息进行核对与检测，防止下单错误，造成物料浪费。

现有技术中，由于物料清单中包含的电子元件信息众多而且复杂，采用人工方式核对与检测BOM表内电子元件中的信息，耗时长、效率低，且容易出错。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种物料清单的异常检测方法及其系统，解决了现有技术中对物料清单中的异常信息进行核对与检测时，耗时长、效率低，且容易出错的技术问题。

根据本申请的第一个方面，一种物料清单的异常检测方法，包括：获取物料清单数据；根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据；当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息，所述异常信息用于表示所述目标检测项数据异常。

在一种可能的实现方式中，所述目标检测项数据包括：位号检测项数据，所述预设检测规则包括：一个位号对应一个电子元件；其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：在所述物料清单数据查找到位号列头数据；以及根据所述位号列头数据，在所述物料清单数据中提取每种电子元件的位号检测项数据，所述位号检测项数据包括至少一个位号；当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：当至少两种所述电子元件的位号检测项数据中有至少一个位号相同时，生成第一异常信息。

在一种可能的实现方式中，所述预设检测规则包括：同一种电子元件的位号数量和电子元件的数量相同；其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：在所述物料清单数据查找到第一种电子元件的元件数据；从所述元件数据中查找到所述第一种电子元件的需求数量以及所述第一种电子元件的位号数据；根据所述位号数据获取所述第一种电子元件的位号数量，其中所述位号检测项数据包括：所述第一种电子元件的需求数量以及位号数量；当所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：当所述第一种电子元件的位号数量与所述第一种电子元件的需求数量之差的绝对值大于零时，生成第二异常信息。

在一种可能的实现方式中，所述目标检测项数据包括：型号检测项数据，所述预设检测规则包括：一个型号对应一种电子元件；其中，根据所述物料清单数据获取所述物料清单中的目标检测项的目标检测项数据包括：在所述物料清单数据查找到型号列头数据；以及根据所述型号列头数据，在所述物料清单数据中提取每种电子元件的型号检测项数据；根据所述型号检测项数据获取所述型号检测项数据的长度；所述长度大于四个预设长度；所述目标检测项数据与预设检测规则冲突时，生成异常信息包括：当所述物料清单中至少两种电子元件的型号检测项数据相同时，生成第三异常信息。

在一种可能的实现方式中，当所述目标检测项数据与所述目标检测项的预设检测规则冲突时，生成异常信息还包括：当所述物料清单中一种电子元件包括至少两种型号检测项数据不同时，生成第四异常信息。