[发明专利]一种侧信道曲线特征提取方法及装置

说明书

本发明公开了一种侧信道曲线特征提取方法及装置，包括：对原始侧信道曲线中的各个点进行预处理，获得目标侧信道曲线；在所述目标侧信道曲线中确定参照特征，并基于所述参照特征和所述目标侧信道曲线进行分析，获得相关性曲线。确定预设参数，并对所述预设参数进行参数调整，得到目标参数；基于所述目标参数和所述相关性曲线，在原始侧信道曲线中进行特征提取，获得特征信息。本发明利用信号处理后的曲线计算相关性，提高了特征提取的准确性，并且可以在特征提取之前对预设参数进行调整，避免固定参数提取的不准确的问题。

技术领域

本发明涉及信息处理技术领域，特别是涉及一种侧信道曲线特征提取方法及装置。

背景技术

芯片中密码算法在运行过程中，会产生一些物理信息的泄露，例如，这些泄露的物理信息可以包括功耗、电磁信号等，这些信息往往和密码算法中间运算过程甚至是密钥有关。侧信道分析利用示波器等设备，将这些物理信息记录下来，形成侧信道曲线，并通过这些物理信息对芯片中运行的密码算法进行分析。

在公钥密码算法的侧信道分析中，往往需要将侧信道曲线中的部分特征进行提取，以用于进一步分析。现有的侧信道曲线的特征提取方式为，用参照特征来与目标侧信道曲线做交叉相关性计算，通过设置最小相关性参数，如果计算出来的相关性大于最小相关性，则提取特征，提取的特征从当前计算相关性的点的前若干个点开始提取，在参照提取长度的若干点后结束。提取的曲线中可以记录一些信息，包括提取的曲线在原始的第几条曲线，以及曲线中的位置等。

但是，这种特征提取的方式是相关性计算和特征提取一起完成，无法对曲线进行预处理，使得提取的特征精度降低，并且所有的提取均是将最小相关性参数进行判断，会使得提取的特征包括了一定的非关注特征，从而使得提取的特征不够准确，可能不满足实际需求。

发明内容

针对于上述问题，本发明提供一种侧信道曲线特征提取方法及装置，实现了提升提取的侧信道曲线特征的准确性。

为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种侧信道曲线特征提取方法，包括：

对原始侧信道曲线中的各个点进行预处理，获得目标侧信道曲线；

在所述目标侧信道曲线中确定参照特征，并基于所述参照特征和所述目标侧信道曲线进行分析，获得相关性曲线；

确定预设参数，并对所述预设参数进行参数调整，得到目标参数；

基于所述目标参数和所述相关性曲线，在原始侧信道曲线中进行特征提取，获得特征信息。

可选地，所述对原始侧信道曲线中的各个点进行预处理，获得目标侧信道曲线，包括：

获取原始侧信道曲线；

对所述原始侧信道曲线的各个点进行数值处理和滤波处理，获得处理后的各个点；

基于处理后的各个点确定目标侧信道曲线。

可选地，所述基于所述参照特征和所述目标侧信道曲线进行分析，获得相关性曲线，包括：

计算所述参照特征与所述目标侧信道曲线的相关系数；

基于所述相关系数，确定相关性曲线。

可选地，所述预设参数包括：

曲线中开始提取特征的起始点、两个特征之间的间隔区间、所要提取的特征长度和开始提取的特征位置。

可选地，所述对所述预设参数进行参数调整，得到目标参数，包括：

对所述相关性曲线进行曲线提取，获得若干条曲线；

基于每一条所述曲线中最大值对应的点，获得与相邻区间中最大值对应的点的距离；