[发明专利]改进的电源适配器检测系统

权利要求书

1.一种改进的电源适配器检测系统，其特征在于，所述改进的电源适配器检测系统包含：一电源适配器检测单元耦接一发光单元，在检测一电源适配器时，所述电源适配器检测单元及所述电源适配器位于一容置空间内，所述容置空间内的温度高于40℃，且所述电源适配器的输出端耦接所述发光单元。

2.根据权利要求1所述的改进的电源适配器检测系统，其特征在于，其中所述发光单元为一闪烁发光电路。

3.根据权利要求2所述的改进的电源适配器检测系统，其特征在于，其中所述发光单元包括一第一三极管、一第二三极管、一第一发光二极管、一第二发光二极管、一第四电阻器、一第五电阻器、一第六电阻器、一第七电阻器、一第三电容器及一第四电容器；所述第四电阻器耦接于所述电源适配器的输出端与所述第一发光二极管之间，所述第一发光二极管耦接于所述第四电阻器与所述第一三极管的一集极之间，所述第七电阻器耦接于所述电源适配器的输出端与所述第二发光二极管之间，所述第二发光二极管耦接于所述第七电阻器与所述第二三极管的一集极之间；所述第三电容器耦接于所述第二三极管的一基极与一第一接点，其位于所述第一发光二极管与所述第一三极管的所述集极之间，所述第四电容器耦接于所述第一三极管的一基极与一第二接点，其位于所述第二发光二极管与所述第二三极管的所述集极之间；所述第五电阻器耦接于一第三接点及一第四接点，所述第三接点位于所述电源适配器的输出端与所述第七电阻器之间，所述第四接点位于所述第一三极管的所述基极与所述第四电容器之间；所述第六电阻器耦接于一第五接点及一第六接点，所述第五接点位于所述第三接点与所述第七电阻器之间，所述第六接点位于所述第二三极管的所述基极与所述第三电容器之间；所述第一三极管的一发射极及所述第二三极管的一发射极接地。

4.根据权利要求1所述的改进的电源适配器检测系统，其特征在于，其中所述电源适配器的输出端与所述发光单元之间耦接有一第三电阻器。

5.根据权利要求1所述的改进的电源适配器检测系统，其特征在于，其中所述容置空间内的温度高于60℃。

6.根据权利要求1所述的改进的电源适配器检测系统，其特征在于，其中所述电源适配器检测单元包括一第一电容器、一第二电容器、一第一电阻器及一第二电阻器，所述第一电容器的一端耦接一系统输入端与所述电源适配器的输入端之间的接点，所述第二电容器的一端耦接所述电源适配器的输出端与所述发光单元之间的一第七接点，所述第二电阻器的一端耦接所述电源适配器的一Vadj引脚，所述第一电阻器的一端耦接一第八接点，其位于所述电源适配器的输出端与所述第七接点之间，所述第一电阻器的另一端耦接一第九接点，其位于所述Vadj引脚与所述第二电阻器之间，所述第一电容器、所述第二电容器及所述第二电阻器的另一端接地。

7.根据权利要求1所述的改进的电源适配器检测系统，其特征在于，其中所述发光单元位于所述容置空间内。