[发明专利]一种位错特征的三维图示化表示方法在审
申请号: | 202110901900.3 | 申请日: | 2021-08-06 |
公开(公告)号: | CN113506366A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 冯宗强;劳洲界;杨涵;王子今;符锐;黄晓旭 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00;G06T7/00;G06T7/90 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王雨 |
地址: | 400000 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 特征 三维 图示 表示 方法 | ||
1.一种位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,包括:
通过透射电镜获取样品中位错图像,并根据获得图像构建所述位错在晶体坐标系下描述的三维图像;
根据所述位错的所述三维图像获得所述位错的线方向;
根据所述位错的线方向和所述位错的柏氏矢量获得所述位错的组分信息,根据所述位错的线方向获得所述位错与预设晶面的空间关系,并在所述位错的所述三维图像中展示所述位错组分信息的空间分布和所述位错与预设晶面的空间关系。
2.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,通过透射电镜获取样品的位错图像,并根据获得图像构建所述位错在晶体坐标系下描述的三维图像包括:
以预设衍射矢量g为成像矢量并保持双束或者弱束成像条件,通过透射电镜对所述样品的位错获取多个不同角度的图像,根据获得图像进行三维重构,获得所述位错在晶体坐标系下描述的三维图像。
3.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,根据所述位错的所述三维图像获得所述位错的线方向包括:
将所述位错的所述三维图像分别沿三个正交方向切片;
在每一切片中识别出位错截面,确定每一切片中位错截面中心的位置;
在所述位错的所述三维图像中依次连接各个位错截面中心,在所述三维图像中确定出所述位错的迹线,根据所述位错的迹线获得所述位错的线方向。
4.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,获取所述样品的所述位错的柏氏矢量包括:
选取所述样品的多个衍射矢量,通过所述透射电镜获取在各个衍射矢量下所述样品的位错图像,根据获得图像基于不可见法则获得所述位错的柏氏矢量。
5.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,根据所述位错的线方向和所述位错的柏氏矢量获得所述位错的组分信息包括:
根据局部位错段的线方向与所述位错的柏氏矢量的夹角角度,确定本局部位错段包含的位错组分。
6.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,在所述位错的所述三维图像中展示所述位错组分信息的空间分布包括:
以同一显示元素的不同量值分别描述位错的线方向与位错柏氏矢量之间夹角的不同角度,在所述位错的所述三维图像中显示各个局部位错段的线方向与所述位错的柏氏矢量的夹角角度,以在所述位错的所述三维图像中显示所述位错组分信息的空间分布。
7.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,根据所述位错的线方向获得所述位错与预设晶面的空间关系包括:
根据局部位错段的线方向获得本局部位错段的线方向与预设晶面的夹角角度,获得所述位错相对于预设晶面的空间关系。
8.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,在所述位错的所述三维图像中展示所述位错与预设晶面的空间关系包括:
以同一显示元素的不同量值分别描述位错的线方向与预设晶面之间夹角的不同角度,在所述位错的所述三维图像中显示各个局部位错段的线方向与预设晶面的夹角角度,以在所述位错的所述三维图像中显示所述位错与预设晶面的空间关系。
9.根据权利要求6或者8所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,使用对比鲜明的两种颜色分别表示角度为0°和90°,设置该两种颜色之间的渐变色阶表示从0°到90°的角度范围。
10.根据权利要求1所述的位错特征的三维图示化表示方法,其特征在于,沿着所述位错的迹线依次取多个点,由相邻两点截取一段位错段,获得每一位错段的组分信息和每一位错段与预设晶面的空间关系。
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