[发明专利]模块测试方法和装置

说明书

提供了一种用于模块测试方法和装置，本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及模块测试技术领域。实现方案为：响应于接收到测试事件的测试指令，激活与模块的一个或多个测试点中的各个测试点相关的测试事件，以调用测试处理函数；测试处理函数与一个或多个测试点相关，并且在模块初始化时，将测试处理函数传送给一个或多个测试点中的各个测试点。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及模块测试领域，具体涉及一种用于模块测试方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

背景技术

在包括软件和硬件的系统中，往往需要对各个功能模块进行测试，以获得表征模块的性能的测试数据。

在此部分中描述的方法不一定是之前已经设想到或采用的方法。除非另有指明，否则不应假定此部分中描述的任何方法仅因其包括在此部分中就被认为是现有技术。类似地，除非另有指明，否则此部分中提及的问题不应认为在任何现有技术中已被公认。

发明内容

本公开提供了一种用于模块测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

根据本公开的一方面，提供了一种用于模块测试方法，包括：响应于接收到测试事件的测试指令，激活与模块的一个或多个测试点中的各个测试点相关的所述测试事件，以调用测试处理函数；其中，所述测试处理函数与所述一个或多个测试点相关，并且在所述模块初始化时，将所述测试处理函数传送给所述一个或多个测试点中的各个测试点。

根据本公开的另一方面，提供了一种用于模块测试装置，包括：响应于接收到测试事件的测试指令，激活与模块的一个或多个测试点中的各个测试点相关的所述测试事件，以调用测试处理函数，其中，所述测试处理函数与所述模块中的一个或多个测试点相关，并且所述模块测试装置还包括：

初始化单元，被配置用于在所述模块初始化时，将所述测试处理函数传送给所述一个或多个测试点中的各个测试点。

根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中所述存储器存储有能够被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器实现根据上述的方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使所述计算机实现根据上述的方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被处理器执行时实现根据上述的方法。

根据本公开的一个或多个实施例，通过在模块中设置测试点，并通过激活测试点处的测试事件，以在测试点处调用测试处理函数从而执行测试事件，从而实现对模块的测试。通过在测试点处调用不同的测试处理函数，可以实现为模块进行不同类型的测试，使所实现的测试的类型可以根据测试处理函数灵活设置。同时，在不调用测试处理函数以执行测试事件的情况下，模块中设置的测试点不占用系统资源，不影响模块的运行。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

附图示例性地示出了实施例并且构成说明书的一部分，与说明书的文字描述一起用于讲解实施例的示例性实施方式。所示出的实施例仅出于例示的目的，并不限制权利要求的范围。在所有附图中，相同的附图标记指代类似但不一定相同的要素。

图1示出了根据本公开的实施例的一种模块测试方法的流程图；

图2A示出了根据本公开的实施例的模块中的结构体的示例；

图2B示出了根据本公开的实施例的模块的数据结构的示例；