[发明专利]头颅结构标准率评估装置、方法及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202110887799.0 | 申请日: | 2021-08-03 |
公开(公告)号: | CN113598795A | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 岳江;魏海林;王冠;盘景松;牛牧 | 申请(专利权)人: | 罗慕科技(北京)有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 威海佩敏专利代理事务所(普通合伙) 37284 | 代理人: | 宋益敏 |
地址: | 100000 北京市顺义*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 头颅 结构 标准 评估 装置 方法 计算机 可读 存储 介质 | ||
本申请涉及医学图像处理技术领域,提供一种头颅结构标准率评估装置、方法及计算机可读存储介质,包括关键头影测量项权重调节单元,用于确定关键头影测量项和所述关键头影测量项的权重;头颅结构标准率确定单元,用于确定评估对象的头颅结构相对于标准头颅结构的标准率;显示单元,用于显示所述评估对象的头颅结构的标准率。本申请的头颅结构标准率评估装置能够根据评估对象有关的信息确定评估对象的头颅结构整体标准率或特定组织结构的标准率,并能够排除过于偏离标准值的组织结构的影响。
技术领域
本申请涉及医学图像处理技术领域,尤其涉及一种头颅结构标准率评估装置、方法及计算机可读存储介质。
背景技术
X线头影测量分析(Cephalometric Analysis)是当今齿科正畸诊断治疗过程中不可或缺的步骤,它包括对评估对象从侧位进行X线(X-Ray)摄片所获取的X线头颅侧位片进行标定、测量、计算、分析的医学图像处理技术,主要用于对患者头颅结构,包括牙颌颅面软硬组织形态、大小、位置及相互关系等进行的测量分析,为正畸治疗提供依据。
随着计算机技术的发展,数字化头影测量软件已逐渐普及,传统医生利用纸笔手动标记、测量计算的方式也逐步淘汰,而计算机的高速计算能力,使得更复杂全面的头影测量计算方式的快速普及应用也成了可能。
目前主流的头影测量分析法有Steiner分析法,北医分析法,Tweed分析法,Downs分析法,Wits分析法,Ricketts分析法,Coben分析法等。
但是,上述现有X线头影测量分析法只给出了包含单个测量指标的测量项目,如SNA测量上颌骨的矢状向关系,SNB测量下颌骨的矢状向关系,后续再通过年龄、人种、地域等研究得出每个测量项的标准值,医生仍需不断对每个测量项与每个测量项的标准值进行比较,仔细研究才能给病例一个总体评估,由于需要不断人为干预判断加之测量指标的分散性,并不利于大量病例的快速筛查对比工作,也很难用于大数据领域,更不能让医生快速得到一个病例的总体评估。
此外,在齿科正畸医学研究中,有时根据特定的治疗研究目的,需要分析研究对象头颅结构中某一项或几项特定组织结构的特征,例如:在治疗研究骨性II类错牙合(牙合为一个字,该字为口腔医学领域用字,指上下牙列之间的接触关系)畸形时,需要特别关注上下颌骨的结构特征,此时需要针对研究对象的该类组织结构特征分析其与标准头颅结构的区别,同时还需要尽量减少评估对象头颅结构中那些过于偏离标准值的结构特征对诊断或分析结果造成的污染。
发明内容
本申请的目的在于提供一种头颅结构标准率评估装置、方法及计算机可读存储介质,可以由使用者根据基于与评估对象有关的信息,确定关键头影测量项并得到评估对象头颅结构相对于标准头颅结构的标准率,从而辅助使用者进行诊断治疗或获取研究信息。
本申请的一个方面提供一种头颅结构标准率评估装置,其包括:
关键头影测量项权重调节单元,被配置为基于与评估对象有关的信息确定关键头影测量项和所述关键头影测量项的权重;
头颅结构标准率确定单元,被配置为基于所述关键头影测量项的测量值、所述关键头影测量项的权重以及标准头颅的头影测量信息确定所述评估对象的头颅结构相对于标准头颅结构的标准率;以及
显示单元,被配置为显示所述关键头影测量项、所述关键头影测量项的权重、所述关键头影测量项的测量值、所述标准头颅的头影测量信息和所述评估对象的头颅结构的标准率。
在一些实施例中,所述关键头影测量项权重调节单元包括:
评估对象信息获取模块,被配置为获取所述与评估对象有关的信息,所述与评估对象有关的信息包括所述评估对象的X线头颅侧位片图像、所述X线头颅侧位片的测量标志点信息和所述评估对象的基本身份信息;
评估目标确定模块,被配置为根据所述与评估对象有关的信息,确定评估目标;
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