[发明专利]孔隙发育特征刻画方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供了一种孔隙发育特征刻画方法、装置、电子设备及存储介质，其方法包括：构建页岩储层的岩石物理模型，岩石物理模型包括从下至上依次设置的层理裂隙层、有机质层、粘土矿物层和脆性矿物层；随机获取至少三个页岩样品，并根据至少三个页岩样品确定有机质层的第一微观孔隙体积、粘土矿物层的第二微观孔隙体积以及脆性矿物层的第三微观孔隙体积；基于第一微观孔隙体积确定有机质层的第一孔隙度；基于第二微观孔隙体积确定粘土矿物层的第二孔隙度；基于第三微观孔隙体积确定脆性矿物层的第三孔隙度。本发明有效刻画了有机质层、粘土矿物层和脆性矿物层中的孔隙度，从而可为页岩储层油气勘探与开发提供保障。

技术领域

本发明涉及孔隙发育特征刻画技术领域，具体涉及一种孔隙发育特征刻画方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

为应对世界能源安全与经济快速发展需要，非常规油气资源勘探开发成为国家的能源开发战略的一大重点方向，页岩油气勘探与开发目前取得重大突破和进展，成为应对能源挑战的重要力量。页岩油气资源主要储存于孔隙空间中，页岩储层孔隙系统的研究极为重要，孔隙类型划分和定量表征是页岩储层有效评价的关键，是影响页岩油气勘探与开发的重要指标。

页岩储层中发育的孔隙类型较为复杂，形态、结构、空间展布多种多样，按照其发育的位置，可以划分为粘土矿物孔、脆性矿物孔、有机质孔和微裂缝等。不管是目前广泛采用的扫描电镜直接观测法，还是包括N₂/CO₂吸附-脱附实验和高压压汞实验在内的流通注入技术，均是对总的孔隙发育特征进行定性、定量表征，无法对不同类型孔隙的发育特征进行针对分析刻画，刻画不够格精细，导致无法对页岩储层的孔隙发育特征进行有效分析。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种孔隙发育特征刻画方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术中存在的无法对不同类型孔隙的发育特征进行刻画分析，导致无法对页岩储层的孔隙发育特征进行有效分析的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种孔隙发育特征刻画方法，包括：

构建页岩储层的岩石物理模型，所述岩石物理模型包括从下至上依次设置的层理裂隙层、有机质层、粘土矿物层和脆性矿物层；

随机获取至少三个页岩样品，并根据所述至少三个页岩样品确定所述有机质层的第一微观孔隙体积、所述粘土矿物层的第二微观孔隙体积以及所述脆性矿物层的第三微观孔隙体积；

基于所述第一微观孔隙体积确定所述有机质层的第一孔隙度；

基于所述第二微观孔隙体积确定所述粘土矿物层的第二孔隙度；

基于所述第三微观孔隙体积确定所述脆性矿物层的第三孔隙度。

在一种可能的实现方式中，所述根据所述至少三个页岩样品确定所述有机质层的第一微观孔隙体积、所述粘土矿物层的第二微观孔隙体积以及所述脆性矿物层的第三微观孔隙体积包括：

根据所述至少三个页岩样品分别获得所述有机质层的至少三个第一质量百分含量、所述粘土矿物层的至少三个第二质量百分含量以及所述脆性矿物层的至少三个第三百分含量；

根据所述至少三个页岩样品获得至少三个样品总孔隙度；

根据所述页岩储层的密度、所述至少三个样品总孔隙度、所述层理裂隙层的微裂缝孔隙度、所述至少三个第一质量百分含量、所述至少三个第二质量百分含量以及所述至少三个第三百分含量确定所述第一微观孔隙体积、所述第二微观孔隙体积以及所述第三微观孔隙体积。

在一种可能的实现方式中，所述至少三个页岩样品中的每一个页岩样品均包括第一子页岩样品和第二子页岩样品；所述根据所述至少三个页岩样品分别获得所述有机质层的至少三个第一质量百分含量、所述粘土矿物层的至少三个第二质量百分含量以及所述脆性矿物层的至少三个第三百分含量包括：