[发明专利]一种流程测试方法、平台、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种流程测试方法、平台、电子设备及存储介质，用于解决现有的流程测试方法测试周期耗时过长的技术问题。其中，方法包括：获取待测试审批流程，所述待测试审批流程包括运行于不同服务上的多个流程节点；获取所有流程节点的待测试接口，所述待测试接口包括目标接口和待引用接口；响应针对所述目标接口的添加参数指令，从所述待引用接口中获取所述目标接口的入参；根据每个流程节点对应的待测试接口和对应的入参，生成每个流程节点的测试流程；获取所述待测试审批流程的执行顺序，根据所述执行顺序执行每个流程节点的测试流程，生成测试结果。

技术领域

本发明涉及流程测试技术领域，尤其涉及一种流程测试方法、平台、电子设备及存储介质。

背景技术

在实际场景中，在执行测试的过程中，经常会遇到某些需求是执行很长的审批流程的功能逻辑，比如办公系统的报销审批流程、供应链的验厂流程、供应链的质检流程等。这些审批流程的审批节点可能有十几个，执行一次这种审批流程测试，短则半小时，长则半天，耗时比较长，导致测试周期较长。

当上述审批流程中某个节点的某小部分代码逻辑被修改时，测试阶段则又需要完整执行一遍审批流程，如果需要完成所有的测试用例，则需要把整个流程走上几遍才能覆盖完测试用例。这样会导致测试一个小点都需要花费很长的时间，导致整个测试周期耗时过长。

发明内容

本发明提供了一种流程测试方法、平台、电子设备及存储介质，用于解决现有的流程测试方法测试周期耗时过长的技术问题。

本发明提供了一种流程测试方法，应用于流程测试平台，所述方法包括：

获取待测试审批流程，所述待测试审批流程包括运行于不同服务上的多个流程节点；

获取所有流程节点的待测试接口，所述待测试接口包括目标接口和待引用接口；

响应针对所述目标接口的添加参数指令，从所述待引用接口中获取所述目标接口的入参；

根据每个流程节点对应的待测试接口和对应的入参，生成每个流程节点的测试流程；

获取所述待测试审批流程的执行顺序，根据所述执行顺序执行每个流程节点的测试流程，生成测试结果。

可选地，所述响应针对所述目标接口的添加参数指令，从所述待引用接口中获取所述目标接口的入参的步骤，包括：

响应针对所述目标接口的参数添加指令，获取输入参数；

根据所述输入参数从所述待引用接口中确定引用接口，并从所述引用接口中获取所述目标接口的入参。

可选地，所述响应针对所述目标接口的添加参数指令，从所述待引用接口中获取所述目标接口的入参的步骤，包括：

响应针对所述目标接口的参数添加指令，确定所述目标接口的引用参数类型和待调整参数；

响应用户的选择操作，在所述待引用接口中选择引用接口，以及在所述引用接口中选择引用参数名称；

根据所述引用参数类型和所述引用参数名称获取引用参数值，并将所述引用参数值作为所述待调整参数的入参。

可选地，所述根据所述引用参数类型和所述引用参数名称获取引用参数值，并将所述引用参数值作为所述待调整参数的入参的步骤，包括：

当所述引用参数类型为引用单值类型时，在所述引用接口中获取所述引用参数名称对应的数值作为引用参数值，并将所述引用参数值作为所述待调整参数的入参；

当所述引用参数类型为引用多值类型时，在所述引用接口中获取具有所述引用参数名称的所有数值作为引用参数值，并将所述引用参数值作为所述待调整参数的入参。

可选地，还包括：