[发明专利]测距方法、装置及设备

权利要求书

1.一种测距方法，应用于测距装置，其特征在于，包括：

在向待测物体发射激光脉冲的情况下，接收由所述待测物体反射得到的多个回波脉冲；

获取每个所述回波脉冲对应的测量时间值并得到多个测量时间值，一个测量时间值表示发射一个所述激光脉冲到接收对应的回波脉冲的时间；

根据所述多个测量时间值中的至少两个测量时间值中不同测量时间值出现的频数，确定目标时刻值；

根据所述目标时刻值和光速，计算所述测距装置与所述待测物体之间的目标距离。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个测量时间值中的至少两个测量时间值中不同测量时间值出现的频数，确定目标时刻值，包括：

将所述多个测量时间值构建为统计直方图；

基于所述统计直方图，根据所述多个测量时间值中的所述至少两个测量时间值中不同测量时间值出现的频数，确定出所述目标时刻值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述激光脉冲为连续发射的多个激光脉冲，且所述多个激光脉冲与所述多个回波脉冲一一对应；

所述根据所述多个测量时间值中的至少两个测量时间值中不同测量时间值出现的频数，确定目标时刻值，包括：

按照公式从所述统计直方图中获取所述目标时刻值；

其中，所述统计直方图的横坐标用于表示按照预设分辨率划分所述多个测量时间值得到的多个横坐标数值，纵坐标用于表示所述多个测量时间值在各个横坐标数值上出现的频数；T表示所述目标时刻值,δ表示预设分辨率，M_i表示n个横坐标数值中的第i个横坐标数值，N_i表示n个频数中的第i个频数，i依次取值为1，2,3,……,n，且n小于P，P为所述统计直方图中所有横坐标数值的数量，所述n个频数中包括M_max，M_max为所述统计直方图中出现的频数极大值，所述n个横坐标数值中包括N_max，N_max为所述统计直方图中对应M_max的横坐标数值，所述至少两个测量时间值对应于所述n个横坐标数值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个测量时间值中的至少两个测量时间值中不同测量时间值出现的频数，确定目标时刻值，包括：

按照公式从所述统计直方图中获取所述目标时刻值；

其中，所述激光脉冲的数量为多个，所述测距装置中包括u行v列的单光子雪崩二极管SPAD像元阵列组成的SPAD器件，一个所述回波脉冲由所述SPAD器件中的多个SPAD像元同时接收，所述至少两个测量时间值为所述多个测量时间值，且所述至少两个测量时间值对应于u*v个测量时间值；所述统计直方图的横坐标用于表示测量时间M_xy，纵坐标用于表示频数N_xy，M_xy为u*v个测量时间值中由所述SPAD阵列中的第x行第y列的SPAD接收的回波脉冲对应的测量时间值，N_xy为所述u*v个测量时间值在测量时间值M_xy上出现的频数，x依次取值为1，2,3,……,u；y依次取值1，2,3,……,v；δ为预设分辨率。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标时刻值和光速，计算所述测距装置与所述待测物体之间的目标距离，包括：

按照公式D＝T*C/2计算所述目标距离；

其中，D表示所述目标距离，T表示所述目标时刻值，C表示光速。