[发明专利]可变抽样区间和样本容量残差MEWMA控制图的经济设计方法在审
申请号: | 202110880312.6 | 申请日: | 2021-08-02 |
公开(公告)号: | CN113569417A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 薛丽;李聪凯;何桢;刘玉敏;曹逗逗;吴昊辰;郑含笑 | 申请(专利权)人: | 郑州航空工业管理学院 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F17/18;G06F17/16 |
代理公司: | 郑州豫鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 41178 | 代理人: | 轩文君 |
地址: | 450000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可变 抽样 区间 样本 容量 mewma 控制 经济 设计 方法 | ||
1.可变抽样区间和样本容量残差MEWMA控制图的经济设计方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:分析、处理数据;设定一多变量自相关过程具有P维质量特性且其服从Var(2)模型,令{Yt}为目标过程,则在时刻t,Yt=Φ1Yt-1+Φ2Yt-2+εt,其中,Φ1、Φ2分别为p×p的系数矩阵,εt是均值为0,协方差矩阵为∑的白噪声序列;
令{Xt}为观测值序列,则在时刻t:Xt=Yt+a;其中,a为偏移量;
令为观测值Xt的预测值,则其中,
过程的残差序列为:Δt=εt+(I-Φ1-Φ2)a;其中,Δ1=X1,Δ2=X2;
残差序列标准化处理:当t≥2时,令当t≤2时,
其中,Γ(0)为过程的自协方差矩阵,Γ(0)=Cov(X,X)。
S2:构建统计量和打点量;
将作为监控对象,在第i次抽样中,设为该次抽样的子组均值,子组大小为固定的样本容量n,则MEWMA统计量为:
其中,Z0=0,r为平滑系数;
MEWMA控制图的打点量为:
S3:构建控制图;
设置控制图的控制限和警戒限分别为H和W,若i时刻控制图打点量则i+1时刻抽样采取长抽样区间h1、小样本容量n2的抽样办法;若i时刻控制图打点量则i+1时刻抽样采取短抽样区间h2、大样本容量n1的抽样办法,若t时刻控制图打点量超出控制限,即则控制图报警。
S4:构建经济模型;
S4-1:为了将复杂的实际情况简单化,提出四点假设:
(1)过程的初始状态为受控,经过一段时间,从某时刻点开始,过程由于异常原因开始失控,直到异常解决后,过程恢复正常,此时一个运行周期结束;
(2)异常发生的概率服从参数为θ的泊松分布,相应的受控时长服从参数为的指数分布;
(3)从过程失控开始,到异常原因被纠正之前,过程一直处于失控状态;
(4)过程只受单一异常因素的影响,且异常不发生在抽样过程中。
S4-2:将一个过程周期的期望值分为以下几部分:
(1)过程受控时长的期望值:
其中,表示过程平均受控时长;
C0表示过程受控时单位时间产生质量损失的平均成本。
(2)由于错误报警而造成的时间期望值:(1-r1)T0ANF
其中,γ1表示:当γ1=1时,寻找异常过程中控制图运行,当γ1=0时,寻找异常过程中控制图停止;
T0表示寻找一次虚发警报的平均时间;
ANF表示错误报警的次数,且AMSS0表示过程受控时,控制图报警所抽取的平均样本个数,s表示过程受控时抽取样本数的平均值,且
(3)过程失控的时间期望:ATS1-τ+nE+T1+T2
其中,ATS1表示过程失控时控制图的平均报警时间;
τ表示过程受控时,异常发生在两次抽样之间的平均时间;
E表示一次抽样和绘图的平均时间;
T1表示发现异常原因的平均时间;
T2表示消除异常原因的平均时间。
S4-3:将一个过程周期内总成本的期望分为以下几部分:
(1)过程受控时产生缺陷产品的成本期望:
其中,C0表示过程受控时单位时间产生缺陷产品的成本;
(2)过程失控时产生缺陷产品的成本期望:C1[ATS1-τ+nE+r1T1+r2T2]
其中,C1表示过程失控时单位时间产生缺陷产品的成本;
γ2表示当γ2=1时,寻找异常过程中控制图运行,当γ2=0时,寻找异常过程中控制图停止错误报警产生的成本期望:a1ANF
其中,a1表示一次错误报警产生的成本;
(4)发现并消除异常的成本期望:a2
(5)抽样的成本期望:
其中,a3表示一次抽样和检测的固定成本;
a4表示抽样和检测的可变成本;
h0表示平均抽样区间,且ATS0表示过程受控时控制图的平均报警时间;
S5:构建构建经济函数ETC
S6:经济设计,即,求取使ETC最小时的最优参数组合(n1,n2,h1,h2,H,W,r)。
2.根据权利要求1所述的一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法,其特征在于,所述ATS0、ATS1、ANSS0的值可以用蒙特卡洛模拟的方法得到。
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