[发明专利]可变抽样区间和样本容量残差MEWMA控制图的经济设计方法在审

专利信息
申请号: 202110880312.6 申请日: 2021-08-02
公开(公告)号: CN113569417A 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 薛丽;李聪凯;何桢;刘玉敏;曹逗逗;吴昊辰;郑含笑 申请(专利权)人: 郑州航空工业管理学院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/18;G06F17/16
代理公司: 郑州豫鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 41178 代理人: 轩文君
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 可变 抽样 区间 样本 容量 mewma 控制 经济 设计 方法
【权利要求书】:

1.可变抽样区间和样本容量残差MEWMA控制图的经济设计方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:分析、处理数据;设定一多变量自相关过程具有P维质量特性且其服从Var(2)模型,令{Yt}为目标过程,则在时刻t,Yt=Φ1Yt-12Yt-2t,其中,Φ1、Φ2分别为p×p的系数矩阵,εt是均值为0,协方差矩阵为∑的白噪声序列;

令{Xt}为观测值序列,则在时刻t:Xt=Yt+a;其中,a为偏移量;

令为观测值Xt的预测值,则其中,

过程的残差序列为:Δt=εt+(I-Φ12)a;其中,Δ1=X1,Δ2=X2

残差序列标准化处理:当t≥2时,令当t≤2时,

其中,Γ(0)为过程的自协方差矩阵,Γ(0)=Cov(X,X)。

S2:构建统计量和打点量;

将作为监控对象,在第i次抽样中,设为该次抽样的子组均值,子组大小为固定的样本容量n,则MEWMA统计量为:

其中,Z0=0,r为平滑系数;

MEWMA控制图的打点量为:

S3:构建控制图;

设置控制图的控制限和警戒限分别为H和W,若i时刻控制图打点量则i+1时刻抽样采取长抽样区间h1、小样本容量n2的抽样办法;若i时刻控制图打点量则i+1时刻抽样采取短抽样区间h2、大样本容量n1的抽样办法,若t时刻控制图打点量超出控制限,即则控制图报警。

S4:构建经济模型;

S4-1:为了将复杂的实际情况简单化,提出四点假设:

(1)过程的初始状态为受控,经过一段时间,从某时刻点开始,过程由于异常原因开始失控,直到异常解决后,过程恢复正常,此时一个运行周期结束;

(2)异常发生的概率服从参数为θ的泊松分布,相应的受控时长服从参数为的指数分布;

(3)从过程失控开始,到异常原因被纠正之前,过程一直处于失控状态;

(4)过程只受单一异常因素的影响,且异常不发生在抽样过程中。

S4-2:将一个过程周期的期望值分为以下几部分:

(1)过程受控时长的期望值:

其中,表示过程平均受控时长;

C0表示过程受控时单位时间产生质量损失的平均成本。

(2)由于错误报警而造成的时间期望值:(1-r1)T0ANF

其中,γ1表示:当γ1=1时,寻找异常过程中控制图运行,当γ1=0时,寻找异常过程中控制图停止;

T0表示寻找一次虚发警报的平均时间;

ANF表示错误报警的次数,且AMSS0表示过程受控时,控制图报警所抽取的平均样本个数,s表示过程受控时抽取样本数的平均值,且

(3)过程失控的时间期望:ATS1-τ+nE+T1+T2

其中,ATS1表示过程失控时控制图的平均报警时间;

τ表示过程受控时,异常发生在两次抽样之间的平均时间;

E表示一次抽样和绘图的平均时间;

T1表示发现异常原因的平均时间;

T2表示消除异常原因的平均时间。

S4-3:将一个过程周期内总成本的期望分为以下几部分:

(1)过程受控时产生缺陷产品的成本期望:

其中,C0表示过程受控时单位时间产生缺陷产品的成本;

(2)过程失控时产生缺陷产品的成本期望:C1[ATS1-τ+nE+r1T1+r2T2]

其中,C1表示过程失控时单位时间产生缺陷产品的成本;

γ2表示当γ2=1时,寻找异常过程中控制图运行,当γ2=0时,寻找异常过程中控制图停止错误报警产生的成本期望:a1ANF

其中,a1表示一次错误报警产生的成本;

(4)发现并消除异常的成本期望:a2

(5)抽样的成本期望:

其中,a3表示一次抽样和检测的固定成本;

a4表示抽样和检测的可变成本;

h0表示平均抽样区间,且ATS0表示过程受控时控制图的平均报警时间;

S5:构建构建经济函数ETC

S6:经济设计,即,求取使ETC最小时的最优参数组合(n1,n2,h1,h2,H,W,r)。

2.根据权利要求1所述的一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法,其特征在于,所述ATS0、ATS1、ANSS0的值可以用蒙特卡洛模拟的方法得到。

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