[发明专利]配件

说明书

本发明公开了配件，用于接纳传感器，该传感器被设计用以测量容器中的介质的至少一个被测变量，该配件包括：基本中空柱形外壳，其被设计用以将配件连接到容器，并且至少部分地布置在该容器中，其中外壳包括第一开口和第二开口，介质穿过第一和第二开口流入或流出；检修室，其在外壳的处于第一和第二开口之间的区域中的内部形成；处在外壳中的可旋转移动的关闭元件，该关闭元件在第一位置释放从第一开口到第二开口的穿过检修室的流动，并且在第二位置阻止穿过检修室的流动；传感器支架；以及所述传感器，该传感器具有灵敏元件并且被布置在传感器支架上或传感器支架中，其中传感器支架被设计成使得灵敏元件在测量/检修位置被布置在检修室中。

技术领域

本发明涉及一种配件，该配件用于接纳被设计用以测量容器中的介质的至少一个被测变量的传感器。

背景技术

配件(例如可回缩的配件)被广泛地使用在分析测量技术和过程自动化中。配件用于在不中断过程的情况下将传感器从所述过程中移除，并因此从介质中移除，并且用于之后重新将传感器引入到所述过程中。传感器被紧固在液面探测管中，并由手或自动地(例如气动地)通过在过程位置(测量)和检修位置(维护，校准，冲洗，探头更换等)之间的驱动器而在轴向上移动。此类过程发生在一定的时间期间内，这取决于测量值的漂移和测量元件的污染。传感器用于测量一个或多个物理或化学的过程变量。

大量不同种类的可回缩的配件由Endress+Hauser企业集团公司提供并商业化，例如名字为“Cleanfit CPA871”。关于这些配件的信息可以在申请人的网站上找到，例如关于http://www.endress.com/cpa871的存档日期。

在此种可回缩的配件中，带有传感器的传感器支架沿着所述配件的主轴线性地移动到过程中，即进入到介质中。所述移动导致从检修位置(传感器与过程隔离，例如为了清洁或校准)进入到测量位置(传感器处在过程中)。在所述检修位置，对于环境或者对于过程的密封例如由带有聚合物密封件的销来实行。此区域由上述从检修位置进入到测量位置(或反之亦然)的线性移动穿过，从而导致高应力和磨损迹象。长行程路径需要长传感器支架。在这种情况下，存在粘到管道的风险，该风险会给密封系统带来很大的应力，特别是在聚合物的情况下。因此，必须频繁地替换密封件。由于所述过程，所述移动附加地给传感器带来应力。而且，当使用pH玻璃传感器时，由于使介质结块和/或结晶导致的粘附增加了在安装和拆卸传感器期间玻璃破碎的风险。

发明内容

本发明基于最小化在传感器和配件上的由于上述方法产生的机械载荷的目的，并且同时实现大浸没深度。

该目的由一种配件实现，所述配件用于接纳传感器，所述传感器被设计用以测量容器中的介质的至少一个被测变量，所述配件包括：基本中空柱形外壳，所述外壳被设计用以将所述配件连接到所述容器，并且至少部分地布置在所述容器中，其中，所述外壳包括第一开口和第二开口，介质穿过所述第一开口和所述第二开口流入或流出；检修室，所述检修室在所述外壳的位于所述第一开口和所述第二开口之间的区域中的内部形成；处在所述外壳中的可旋转移动的关闭元件，所述关闭元件在第一位置释放从所述第一开口到所述第二开口的穿过所述检修室的流动，并且在第二位置阻止穿过所述检修室的流动；传感器支架；以及所述传感器，所述传感器具有灵敏元件并且被布置在所述传感器支架上或所述传感器支架中，其中所述传感器支架被设计成使得所述灵敏元件在测量/检修位置被布置在所述检修室中。

一个实施例提供了，所述关闭元件被设计成滚珠或塞子。

一个实施例提供了，所述传感器支架包括螺纹，特别是内螺纹，并且所述传感器，特别是具有外螺纹，其被拧到所述传感器支架中。

一个实施例提供了，所述传感器支架可以在所述外壳中沿轴向至少在测量/检修位置和外部位置之间移动。

一个实施例提供了，所述传感器支架可以手动地、气动地或者利用马达移动进入到所述测量/检修位置或离开所述测量/检修位置。