[发明专利]一种手动超声C扫检测系统及方法在审
申请号: | 202110862882.2 | 申请日: | 2021-07-29 |
公开(公告)号: | CN115684358A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 高晓进;高增华;江柏红;张昊;贺锁让 | 申请(专利权)人: | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/22;G01N29/24 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人: | 程虹 |
地址: | 100074 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 手动 超声 检测 系统 方法 | ||
本发明涉及一种手动超声C扫检测装置及方法,属于无损检测技术领域,解决了现有技术中扫查装置对场外检测不方便携带、C扫检测不准确、对不规则产品无法精准定位C扫等问题。本发明采用3个固定的超声探头和1个置于第四超声检测探头上端的低频压电晶片组成定位系统,为第四超声检测探头的检测点定位,定位方式能够实时提供X、Y、Z三个方向的坐标值,可用于复杂曲面外形被检件的三维手动超声C原位扫成像具有高精度、高响应效率、位置信号稳定、位置信号无干扰、实时输出位置信号的优点。
技术领域
本发明涉及无损检测技术领域,尤其涉及一种手动超声C扫检测系统及方法。
背景技术
目前市场上有成熟的超声C扫自动扫查系统,如超声反射法C扫自动扫查系统,超声穿透法C扫自动扫查系统。但上述自动扫查系统体积大、重量大,不能搬运,只能在实验室内部对被检件进行检测,无法进行外场检测,且自动扫查系统一般只能对规则外形的被检件进行检测,难以对复杂外形的被检件进行检测。
此外,市场上有用于外场检测的手动超声C扫系统,如采用CCD相机定位的手动超声C扫系统,但该系统由于受外界的光照和被检件反光的影响较大,抗干扰能力低,且CCD相机识别探头位置速度较慢,检测效果不好;采用编码器滚轮探头定位的手动超声C扫系统,只能用于平板件的检测,只能在滚动的方向上定位,且编码器在检测时容易打滑,定位精度不高;采用拉线编码器定位的手动超声C扫系统,由于拉线刚度较低,定位的精度低,且对不规则产品检测时,拉线可能受被检件型面的影响。
因此,目前亟需一种对被检件实现高精度、手动、便携式外场超声C扫检测系统及方法。
发明内容
鉴于上述的分析,本发明旨在提供一种手动超声C扫检测系统及方法,实现便携外场适用、高灵敏、高精度的手动超声C扫原位检测。
一方面,本发明提供了一种手动超声C扫检测系统,包括多通道超声仪、计算机、超声探头组和连杆;
上述超声探头包括:第一超声探头、第二超声探头、第三超声探头和第四超声检测探头;上述第四超声检测探头为检测探头;
上述连杆包括第一连杆和第二连杆,上述第一超声探头与第二超声探头由第一连杆连接,第一超声探头与第三超声探头由第二连杆连接,上述第一连杆和第二连杆夹角呈90°,且三个探头在同一水平面。
进一步地,上述多通道超声检测仪包括第一通道、第二通道、第三通道和第四通道;
上述第一通道设置为反射法模式,所述第二、三和四通道设置为穿透法模式,四个通道同步;
上述多通道超声检测仪接收频带的范围不小于150kHz-10MHz。
进一步地,上述第四超声检测探头包括依次设置的低频压电晶片、高频压电晶片和延迟块;
上述低频压电晶片、第一超声探头、第二超声探头、第三超声探头中的频率范围为200kHz~500kHz,且采用的频率相等。
进一步地,上述的第四超声检测探头包括低频压电晶片、高频压电晶片、延迟块。
进一步地,上述第四超声检测探头的延迟块为高分子材料,其厚度应满足:
其中,H-延迟块的厚度,C延迟块-延迟块中的纵波声速,T被检件-被检件的厚度,C被检件-被检件中的纵波声速。
进一步地,上述第四超声检测探头中的低频压电晶片连接多通道超声仪的第二、三、四通道的发射端,发射用于定位的超声信号;
上述第一超声探头、第二超声探头、第三超声探头分别连接多通道超声仪的第二、三、四通道的接收端,接收用于定位的超声信号。
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