[发明专利]大视场高分辨光场显微系统校正方法和装置有效
申请号: | 202110854589.1 | 申请日: | 2021-07-28 |
公开(公告)号: | CN113327211B | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 戴琼海;吴嘉敏;何继军 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/80 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张梦瑶 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 视场 分辨 显微 系统 校正 方法 装置 | ||
1.一种大视场高分辨光场显微系统校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
采集标定板多个轴向位置处的光场图像;
采集未加入所述标定板的白光场图像;
采集噪声图像;
对所述白光场图像和所述噪声图像进行处理,得到光场解码参数;
使用所述光场解码参数对所述光场图像进行解码,得到4维光场数据;
使用所述多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据校正成像系统畸变,
其中,所述使用所述多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据校正成像系统畸变,具体为:
利用所述多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据的特征,确定所述大视场光场显微系统的物镜焦面参数,从而确定所述大视场光场显微系统内各点在各视角下光程差变化规律;
根据获得的光程差变化规律校正各视角图像,然后用三维解卷积方法重建样本空间结构。
2.如权利要求1所述的大视场高分辨光场显微系统校正方法,其特征在于,所述采集标定板多个轴向位置处的光场图像,具体为:
将标定板置于物镜前焦面附近,保持标定板与系统光轴垂直,通过沿轴向平移大视场光场显微系统或标定板,实现大视场光场显微系统对标定板位于不同轴向位置处光场成像。
3.如权利要求1所述的大视场高分辨光场显微系统校正方法,其特征在于,所述采集未加入所述标定板的白光场图像,具体为:
保持与采集标定板光场图像相同光照强度,采用与采集标定板光场相同曝光时间,或采用多种不同曝光时间,分别采集白光场图像。
4.如权利要求1所述的大视场高分辨光场显微系统校正方法,其特征在于,所述采集噪声图像,具体为:
关闭或遮挡大视场光场显微系统光照,采集不同曝光时间下大视场光场显微系统噪声图像。
5.如权利要求1所述的大视场高分辨光场显微系统校正方法,其特征在于,所述对所述白光场图像和所述噪声图像进行处理,得到光场解码参数,具体为:
通过分析所述白光场图像和所述噪声图像,剔除相机坏点,降低环境杂散光和相机暗电流影响,确定每个微透镜中心点坐标、微透镜和相机间夹角,从而确定光场解码参数。
6.如权利要求1所述的大视场高分辨光场显微系统校正方法,其特征在于,利用所述光场解码参数对标定板光场图像解码得到4维光场数据,拆分出标定板在不同视角下成像。
7.一种大视场高分辨光场显微系统校正装置,其特征在于,包括采集模块、处理模块、解码模块、校正模块,其中,
所述采集模块,用于采集标定板多个轴向位置处的光场图像、未加入所述标定板的白光场图像和噪声图像;
所述处理模块,用于对所述白光场图像和所述噪声图像进行处理,得到光场解码参数;
所述解码模块,用于使用所述光场解码参数对所述光场图像进行解码,得到4维光场数据;
所述校正模块,用于使用所述多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据校正成像系统畸变,
其中,所述使用所述多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据校正成像系统畸变,具体为:
利用所述多个轴向位置处的光场图像对应的4维光场数据的特征,确定所述大视场光场显微系统的物镜焦面参数,从而确定所述大视场光场显微系统内各点在各视角下光程差变化规律;
根据获得的光程差变化规律校正各视角图像,然后用三维解卷积方法重建样本空间结构。
8.一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的大视场高分辨光场显微系统校正方法。
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