[发明专利]用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法

权利要求书

1.一种用例生成方法，其特征在于，包括：

通过预设约束文件对低速模块进行综合，以得到综合后的低速模块；

基于插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件；

获取所述综合后的低速模块中捕获模式的目标频率；以及

基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设约束文件为没有定义扫描时钟的约束文件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SPF文件包括所述捕获模式下的波形表，所述基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例，包括：

获取所述目标频率对应的周期；以及

基于所述目标频率对应的周期修改所述SPF文件中的捕获模式下的波形表的周期，并基于修改后的SPF文件生成测试用例。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标频率对应的周期，包括：

获取所述综合后的低速模块的捕获模式的最大频率，并将所述最大频率确定为所述目标频率；以及

获取所述目标频率对应的周期。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SPF文件包括捕获模式下的波形表和移位模式下的波形表，所述基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例，包括：

获取所述目标频率对应的周期；

基于所述目标频率对应的周期修改所述SPF文件中的捕获模式下的波形表的周期以及移位模式下的波形表的周期；以及

基于修改后的SPF文件生成测试用例。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述基于插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件之前，所述方法还包括：

对所述综合后的低速模块进行检验处理，得到检验结果，其中所述检验处理包括静态时序分析和形式验证；

判断所述检验结果是否满足预设条件；

若是，则基于所述插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件；以及

若否，则执行所述通过预设约束文件对低速模块进行综合，以得到综合后的低速模块。

7.一种测试方法，其特征在于，应用于芯片，所述测试方法包括如权利要求1至6任一项所述的用例生成方法，所述测试方法还包括：

基于所述测试用例对未封装的芯片进行测试，得到测试值；

比对所述测试值与所述测试用例对应的预估值；以及

当所述测试值与所述测试用例对应的预估值不一致时，确定所述未封装的芯片的测试结果不满足要求。

8.一种可测试性设计方法，其特征在于，包括如权利要求1至6任一项所述的用例生成方法，所述可测试性设计方法还包括：

基于所述测试用例进行可测试性设计仿真。

9.一种用例生成装置，其特征在于，包括：

综合模块，用于通过预设约束文件对低速模块进行综合，以得到综合后的低速模块；

文件生成模块，用于基于插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件；

获取模块，用于获取所述综合后的低速模块中捕获模式的目标频率；以及

用例生成模块，用于基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例。

10.一种设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器；以及

一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个应用程序被配置用于执行如权利要求1至6任一项所述的方法、如权利要求7所述的方法、或如权利要求8所述的方法。