[发明专利]基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法

权利要求书

1.基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于包括以下步骤：

1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；

2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；

3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；

4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行；

5)使用基质辅助激光解析飞行时间质谱仪采集靶板上的标准样品图谱数据；

6)使用上位机将步骤5)所采集的图谱数据与标准图谱数据对比，调节仪器电参数，校正后续采集数据。

2.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述可调悬臂可在水平面150°扇形范围内自由旋转。

3.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述千分表可在低于调平基准面16mm至30mm范围内测量。

4.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述调节螺钉设有三个，均布于靶板平台的底部。

5.如权利要求4所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：在步骤4)中，三个调节螺钉的高度极差不大于0.003mm。

6.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：在步骤5)中，需在标准靶板上中心对称地取四个采样点进行采样操作。

7.如权利要求1所述的基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，其特征在于：所述千分表采用高精度数显千分表。