[发明专利]一种光耦故障检测电路、方法及通讯系统

说明书

本发明公开一种光耦故障检测电路、方法及通讯系统。其中，该光耦故障检测电路包括：采样模块，设置在主机MCU和从机MCU之间，用于基于所述主机MCU的发送端发送的信号，生成第一采样信号，以及，基于所述主机MCU的接收端接收的信号，生成第二采样信号，并将所述第一采样信号和所述第二采样信号发送至所述从机MCU；所述从机MCU，用于根据所述第一采样信号和所述从机MCU的接收端接收的信号判断所述第一光耦是否发生故障；以及，根据所述从机MCU的发送端发送的信号和所述第二采样信号判断所述第二光耦是否发生故障。通过本发明，能够实现快速检测通讯系统的光耦故障，提高系统的故障检测效率。

技术领域

本发明涉及电子电力技术领域，具体而言，涉及一种光耦故障检测电路、方法及通讯系统。

背景技术

现有的通讯系统有多种，其中包括UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发器)通讯系统，该系统是一种通用串行数据总线系统，用于异步通信。该系统中，总线双向通信，可以实现全双工传输和接收。图1为现有的UART通讯系统的结构图，如图1所示，UART通讯系统是依靠两路光耦器件搭建的信号输出返回的通讯回路，一般通讯故障是检测输入输出的信号是否正确，是否有缺失，通讯方式是否匹配等方式进行检测。但是往往有些时候出现通讯故障不是因为信号的问题，可能会出现在光耦器件上面，光耦器件容易因机组运行环境或一些静电影响等导致损坏或异常，如果光耦器件有异常，影响信号正常输出，但是，现有的通讯系统中，并没有针对光耦器件异常的检测方案，而现有的单独针对光耦故障检测方法，耗时较长，检测效率较低。

针对现有技术中通讯系统中没有针对光耦器件异常的检测方案，导致光耦故障无法被及时检出的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例中提供一种光耦故障检测电路、方法及通讯系统，以解决现有技术中没有针对光耦器件异常的检测方案，导致光耦故障无法被及时检出的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种光耦故障检测电路，所述光耦故障检测电路包括：

采样模块，设置在主机MCU和从机MCU之间，用于基于所述主机MCU的发送端发送的信号，生成第一采样信号，以及，基于所述主机MCU的接收端接收的信号，生成第二采样信号，并将所述第一采样信号和所述第二采样信号发送至所述从机MCU；其中，所述主机MCU和所述从机MCU之间通过第一光耦和第二光耦进行信号传输；

所述从机MCU，用于根据所述第一采样信号和所述从机MCU的接收端接收的信号判断所述第一光耦是否发生故障；以及，根据所述从机MCU的发送端发送的信号和所述第二采样信号判断所述第二光耦是否发生故障；其中，所述从机MCU的接收端接收的信号为所述主机MCU的发送端发出的信号经由所述第一光耦后生成的信号，所述从机MCU的发送端发送的信号经由所述第二光耦传输至所述主机MCU的接收端。

进一步地，所述采样模块，其第一接口连接所述主机MCU的发送端；其第二接口连接所述主机MCU的接收端；其第三接口连接所述从机MCU的第一反馈接口，并与所述第一接口导通，其第四接口连接所述从机MCU的第二反馈接口，并与所述第二接口导通。

进一步地，所述采样模块包括：

第一采样单元，设置在所述主机MCU的发送端与所述第一反馈接口之间，用于根据所述主机MCU的发送端发送的信号生成所述第一采样信号，并输出至所述从机MCU的所述第一反馈接口；

第二采样单元，设置在所述主机MCU的接收端与所述第二反馈接口之间，用于根据所述主机MCU的接收端接收的信号生成所述第二采样信号，并输出至所述从机MCU的所述第二反馈接口。

进一步地，所述从机MCU具体用于：

在所述第一采样信号为高电平信号，且所述从机MCU的接收端接收的信号为高电平信号时，判定所述第一光耦未发生故障；