[发明专利]光检测装置和图像处理方法在审
申请号: | 202110781785.0 | 申请日: | 2017-06-29 |
公开(公告)号: | CN113660436A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 托马斯·理查德·艾尔斯;松本静德 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357;H04N5/374 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈睆;曹正建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 图像 处理 方法 | ||
1.一种光检测装置,其包括:
像素电路,其包括复位晶体管,并且被配置成输出像素信号;
差分比较器,其包括像素输入、参考输入和比较器输出;
第一信号线,其连接到所述像素电路,并且连接到所述差分比较器;以及
第二信号线,其连接到所述复位晶体管的源极或漏极,并且连接到所述比较器输出。
2.根据权利要求1所述的光检测装置,其还包括:
数模转换器,其被配置成输出具有斜坡波形的参考信号。
3.根据权利要求2所述的光检测装置,其中,所述差分比较器被配置成在所述像素输入处接收所述像素信号和在所述参考输入处接收所述参考信号,并且输出数字信号的表示。
4.根据权利要求2所述的光检测装置,其中,
所述数模转换器被配置成初始化为初始信号电平且接着输出所述斜坡波形,此时所述差分比较器被配置成执行与所述像素电路的复位电平对应的P相测量,并且
所述数模转换器被配置成随后重新初始化为所述初始信号电平、且然后输出所述斜坡波形,此时所述差分比较器被配置成执行与所述像素电路的数据电平对应的D相测量。
5.根据权利要求4所述的光检测装置,其中,所述初始信号电平基于所述光检测装置的系统增益。
6.根据权利要求1所述的光检测装置,其中,所述复位晶体管的栅极被配置成依次接收高复位电平、中间复位电平和低复位电平。
7.根据权利要求6所述的光检测装置,其中,所述高复位电平和所述中间复位电平高于所述复位晶体管的栅极阈值,并且所述低复位电平低于所述复位晶体管的栅极阈值。
8.根据权利要求1所述的光检测装置,其中,所述像素电路还包括光电二极管、传输晶体管、源极跟随器晶体管和保持电容器。
9.根据权利要求8所述的光检测装置,其中,所述像素电路还包括选择晶体管。
10.根据权利要求1所述的光检测装置,其中,
所述像素电路是以矩阵布置的多个像素电路之中的一者,并且
所述差分比较器对应于所述矩阵的多个列。
11.一种图像处理方法,其包括:
经由第一信号线从包括复位晶体管的像素电路输出像素信号;以及
从包括像素输入、参考输入和比较器输出的差分比较器输出差分信号,
其中,所述复位晶体管的源极或漏极经由第二信号线连接到所述比较器输出。
12.根据权利要求11所述的图像处理方法,其还包括:
从数模转换器输出具有斜坡波形的参考信号。
13.根据权利要求12所述的图像处理方法,其还包括:
在所述差分比较器的所述参考输入处接收所述参考信号;和
在所述差分比较器的所述像素输入处接收所述像素信号。
14.根据权利要求12所述的图像处理方法,其还包括:
将所述数模转换器初始化为初始信号电平,且接着输出所述斜坡波形;
然后,执行与所述像素电路的复位电平对应的P相测量;
然后,将所述数模转换器重新初始化为所述初始信号电平,且接着输出所述斜坡波形;并且
然后,执行与所述像素电路的数据电平对应的D相测量。
15.根据权利要求14所述的图像处理方法,其中,所述初始信号电平基于光检测装置的系统增益。
16.根据权利要求11所述的图像处理方法,其还包括:
在所述复位晶体管的栅极处,依次接收高复位电平、中间复位电平和低复位电平。
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