[发明专利]一种RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法有效
申请号: | 202110779132.9 | 申请日: | 2021-07-09 |
公开(公告)号: | CN113628674B | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
发明(设计)人: | 樊凌雁;李俊凡 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G06T7/00;G06T7/90 |
代理公司: | 浙江永鼎律师事务所 33233 | 代理人: | 陆永强 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 raim 构架 ssd 故障 emmc 定位 方法 | ||
1.一种RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法,其特征在于,包括通过红外热像仪对eMMC进行热成像图的拍摄,根据预设的颜色范围判断eMMC是否出现故障;具体包括以下步骤:
S1,测试若干个SSD盘,选出故障盘,并记录故障RCA;
S2,对故障盘中每一个eMMC进行编号,并格式化故障盘;
S3,测试正常盘不同工作状态下的色温,作为故障检测对比标准;
S4,选中S1中非故障的RCA,写入数据,获取红外成像图;
S5, 观测红外成像图,得到正常工作的eMMC对应的S4中RCA;
S6,重复S4和S5,测试故障SSD盘上所有非故障的相对设备地址RCA对应的eMMC是否是正常颗粒;
所述测试若干个SSD盘,选出故障盘,并记录故障RCA,具体为依次对盘上所有RCA的eMMC发送擦、写和读命令,通过查看擦除之后,数据反馈线上0bit位的数据判断擦除是否故障,如果0bit位是0,表示擦除成功,如果超出预设擦除时间后0bit位还是1,表示该RCA对应的eMMC擦除发生故障;再发送写读命令,写入特定的预设值,再读上来进行对比,如果不一致,则写读故障;发生擦写读其中任何一种故障,即认为该RCA对应的eMMC是故障的,反之正常,记录该盘所有RCA对应的eMMC的状态,即正常或故障;
所述对故障盘中每一个eMMC进行编号,并格式化故障盘,其中故障盘格式化,清除数据,避免在选中阵列中一个eMMC进行操作时,其他空闲eMMC发生垃圾回收使芯片发热而发生误判的情况;
所述测试正常盘不同工作状态下的色温,作为故障检测对比标准,具体为若干次使用红外成像仪获得温度和色温,记录空闲不工作状态下的eMMC所处区域的温度对应红外成像图中的颜色范围,记为低温色;记录写数据5分钟工作状态下的eMMC的所处区域的温度对应红外成像图中的颜色范围,记为高温色;
所述选中S1中非故障的RCA,写入数据,获取红外成像图,具体为选中S1中没有发生故障的一个RCA,写入数据5分钟,让该RCA对应的eMMC工作,温度升高且达到稳定状态,然后使用红外热像仪拍摄红外成像图;
所述观测红外成像图,得到正常工作的eMMC对应的S4中RCA,具体为观察成像图,如果有一颗eMMC所在区域色温范围符合S3中高温色范围,则说明该颗eMMC正在正常工作,该颗粒为正常颗粒,且对应S4下发的RCA。
2.根据权利要求1所述的RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法,其特征在于,所述重复S4和S5,测试正常SSD盘上所有非故障的RCA对应的eMMC是否是正常颗粒,具体为重复S4和S5,依次测试盘上所有正常RCA对应的eMMC是否为正常颗粒,检验出盘上所有正常颗粒,剩余的即为故障颗粒。
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