[发明专利]设备控制方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种设备控制方法，其特征在于，所述方法应用于一种电子设备，所述方法包括：

获取所述电子设备的运行数据；

确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；

若确定所述运行数据满足所述约束条件，通过预设调整规则对所述缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，并按照调整后的所述缺冷媒保护检测的操作过程进行缺冷媒保护检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述运行数据为所述电子设备当前记录的上电次数；

所述确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：

判断所述上电次数是否小于或等于预设次数阈值；

若判断所述上电次数小于或等于所述预设次数阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；

若判断所述上电次数大于所述预设次数阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述运行数据包括所述电子设备的连续运行时间；

所述确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：

判断所述连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；

若所述连续运行时间小于或等于所述预设时间阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；

若所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述运行数据包括所述电子设备当前记录的上电次数以及所述电子设备的连续运行时间；

所述确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件，包括：

当确定所述上电次数小于或等于预设次数阈值，且确定所述连续运行时间小于预设时间阈值时，确定所述运行数据满足所述约束条件；

若所述上电次数大于所述预设次数阈值，或者所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。

5.根据权利要求1～4任一项所述的方法，其特征在于，所述调整规则包括：

屏蔽所述缺冷媒检测操作；或者，增大缺冷媒判定阈值，其中，所述缺冷媒判定阈值为判定所述电子设备处于缺冷媒状态的次数阈值。

6.一种设备控制装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述电子设备的运行数据；

确定模块，用于确定所述运行数据是否满足缺冷媒保护检测的约束条件；

调整模块，用于若确定所述运行数据满足所述约束条件，通过预设调整规则对所述缺冷媒保护检测的操作过程进行调整，并按照调整后的所述缺冷媒保护检测的操作过程进行缺冷媒保护检测。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述运行数据为所述电子设备的连续运行时间；

所述确定模块具体用于，判断所述连续运行时间是否小于或等于预设时间阈值；

若所述连续运行时间小于或等于所述预设时间阈值，确定所述运行数据满足所述约束条件；

若所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述运行数据包括所述电子设备当前记录的上电次数以及所述电子设备的连续运行时间；

所述确定模块具体用于，当确定所述上电次数小于或等于预设次数阈值，且确定所述连续运行时间小于预设时间阈值时，确定所述运行数据满足所述约束条件；

若所述上电次数大于所述预设次数阈值，或者所述连续运行时间大于所述预设时间阈值，确定所述运行数据不满足所述约束条件。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；

所述处理器用于执行所述存储器中存储的设备控制程序，以实现权利要求1-5任一项所述的方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序被执行时，实现权利要求1-5任一项所述的方法。