[发明专利]一种硅块破碎装置及使用方法、硅块破碎方法及应用方法有效
申请号: | 202110769884.7 | 申请日: | 2021-07-08 |
公开(公告)号: | CN113304848B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 吴锋;田新;王付刚;徐玲锋;陈卓 | 申请(专利权)人: | 江苏鑫华半导体材料科技有限公司 |
主分类号: | B02C19/18 | 分类号: | B02C19/18 |
代理公司: | 北京锦信诚泰知识产权代理有限公司 11813 | 代理人: | 倪青华 |
地址: | 221004 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 破碎 装置 使用方法 方法 应用 | ||
本发明涉及破碎装置技术领域,尤其涉及一种硅块破碎装置,包括:容器,提供待破碎硅棒的容纳空间,且在容纳空间内执行破碎动作;两脉冲电极,在容纳空间内悬挂设置,且悬挂高度及两脉冲电极在水平面内的位置均可调节;容器内设置有高纯水,脉冲电极在高纯水内产生脉冲电弧,高纯水的电阻率为ρ,单位为MΩ.cm,16MΩ.cm≤ρ≤20MΩ.cm。本发明中,在脉冲破碎过程中,硅棒接触的介质为高纯水,避免了人工或机械破碎过程中人或金属材料引入的污染,在电极处形成脉冲电弧,电弧进入多晶硅内部,形成等离子体电弧通道,最终将硅棒破碎为大小尺寸不一的硅块。本发明中还请求保护硅块破碎装置的使用方法,以及一种硅块破碎方法及应用方法。
技术领域
本发明涉及破碎装置技术领域,尤其涉及一种硅块破碎装置及使用方法、硅块破碎方法及应用方法。
背景技术
电子级多晶硅是集成电路产业的基础原材料,一般采用改良西门子法进行生产,在还原炉中利用化学气相沉积产出多晶硅棒,然后对其进行破碎、筛分及清洗,从而得到尺寸不一的多晶硅块,以便于下游半导体硅片厂家投炉进行单晶拉制。
传统的破碎方式一般采用钨合金锤进行人工破碎,或使用辊式破碎机等进行机械破碎,但是前者为人工操作,容易在操作过程中引入人工污染,后者则会导致硅块与机械设备过多接触,硅块表面受到大量金属污染;上述两种情况均会导致硅块表面污染,从而影响下游单晶产品质量。
发明内容
本发明提供了一种硅块破碎装置,可有效解决背景技术中的问题,同时本发明中还请求保护硅块破碎装置的使用方法,以及,一种硅块破碎方法及应用方法,具有同样的技术效果。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种硅块破碎装置,包括:
容器,提供待破碎硅棒的容纳空间,且在所述容纳空间内执行破碎动作;
两脉冲电极,在所述容纳空间内悬挂设置,且悬挂高度及两所述脉冲电极在水平面内的位置均可调节;
所述容器内设置有高纯水,用于对所述硅棒与外界环境进行隔离,所述脉冲电极在所述高纯水内产生脉冲电弧,所述高纯水的电阻率为ρ,单位为MΩ.cm,其中,16MΩ.cm≤ρ≤20MΩ.cm。
一种如上所述的硅块破碎装置的使用方法,包括以下步骤:
对两所述脉冲电极与所述硅棒的相对位置进行调节;
确定电源的脉冲电压及脉冲频率;
供电执行破碎操作。
进一步地,所述脉冲电极与所述硅棒的相对位置调节的模型如下:
其中,
S为两所述脉冲电极间的水平间距以mm为单位时的数值;
L为硅棒的长度以mm为单位时的数值,1500≤L≤3000;
A为破碎后的硅块目标粒径以mm为单位时,取值范围的中位数;
X为所述脉冲电极与所述硅棒的垂直距离以mm为单位时的数值;
D为硅棒直径以mm为单位时的数值。
进一步地,所述脉冲电压的调节模型如下:
其中,
A为破碎后的硅块目标粒径以mm为单位时,取值范围的中位数;
U为脉冲电压以KV为单位时的数值。
进一步地,所述脉冲频率的调节模型如下:
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