[发明专利]显示面板

说明书

本申请实施例公开了一种显示面板，其包括显示区、位于显示区一侧的外围区和位于外围区一侧的检测区，数据线设置于显示区；外延线设置在基板上，外延线自显示区延伸至检测区，一外延线对应电连接一数据线；测试垫设置在检测区，一测试垫对应电连接一外延线。本申请通过将测试垫设置在检测区，并采用测试垫和外延线一一对应连接，从而实现采用全接触的探针检测方式进行点灯测试，也即采用探针接触检测区的测试垫。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板。

背景技术

在对现有技术的研究和实践过程中，本申请的发明人发现，现有LOI-1点灯采用短接棒的设计方式，即将不同数据线短接在一起，显示R/G/B/W多个画面，但无法显示上白下黑或上黑下白画面，也即薄膜晶体管的源极和漏极短路造成的亮点无法检出。

而现有的全接触检测方式虽然可以显示上白下黑或上黑下白画面，但探针直接在绑定区上进行探测，由于绑定区的绑定垫精度较高，而探针和设备的精度相对较低，故在进行探测的过程容易出现偏差，导致检测良率下降。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板，可采用全接触的探针检测方式进行点灯测试。

本申请实施例提供一种显示面板，包括显示区、位于所述显示区一侧的外围区和位于所述外围区远离所述显示区一侧的检测区，其中，所述显示面板包括：

基板，所述基板设置于所述显示区、所述外围区和所述检测区；

多条数据线，所述数据线设置在所述基板上，所述数据线设置于所述显示区；

多条外延线，所述外延线设置在所述基板上，所述外延线自所述显示区延伸至所述检测区，一所述外延线对应电连接一所述数据线；

多个测试垫，所述测试垫设置在所述基板上，所述测试垫设置在所述检测区，一所述测试垫对应电连接一所述外延线。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括：

第一金属层，所述第一金属层设置在所述基板上，所述第一金属层包括所述外延线；

第一绝缘层，所述第一绝缘层设置在所述第一金属层上；

第二金属层，所述第二金属层设置在所述第一绝缘层上，所述第二金属层包括所述数据线和信号接入部，所述信号接入部设置在所述检测区；

第二绝缘层，所述第二绝缘层设置在所述第二金属层上；

导电层，所述导电层设置在所述第二绝缘层上，所述导电层包括所述测试垫，所述测试垫连接于所述外延线和所述信号接入部。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述第二绝缘层设置有第一过孔和第二过孔，所述第一过孔裸露所述信号接入部，所述第二过孔延伸入所述第一绝缘层并裸露所述外延线，所述测试垫延伸入所述第一过孔连接于所述信号接入部，所述测试垫延伸入所述第二过孔连接于所述外延线；

所述测试垫延伸入所述第一过孔和所述第二过孔的部分形成凹陷部，所述凹陷部用于插入探针。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和所述第二过孔间隔设置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和所述第二过孔连通设置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述外延线包括主线部分和连接于所述主线部分一端的绑定部分，所述绑定部分的宽度大于所述主线部分的宽度；

所述第二过孔裸露所述绑定部分，所述测试垫连接于所述绑定部分。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述第一过孔和/或所述第二过孔的开口面积大于所述探针的端面面积。