[发明专利]密度确定方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种密度确定方法，其特征在于，包括：

获取针对待测目标体所设多个测量点处的布格重力异常；其中，所述待测目标体为指定深度处的地质体，所述多个测量点中相邻测量点之间的间距与所述指定深度满足预设条件；

针对每一测量点，基于所述多个测量点处的布格重力异常，确定该测量点处所述待测目标体的布格重力异常，作为该测量点处的第一异常，并基于所述多个测量点处的布格重力异常，确定该测量点处所述待测目标体对应参考体的布格重力异常，作为该测量点处的第二异常；所述参考体为深度大于所述指定深度的地质体；

针对每一测量点，计算该测量点处的第一异常和第二异常的差，作为该测量点处所述待测目标体的局部重力异常；

基于每一测量点处所述待测目标体的局部重力异常，对所述待测目标体进行密度反演，得到所述待测目标体在横向截面上的密度分布，作为所述待测目标体的密度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个测量点处的布格重力异常，确定该测量点处所述待测目标体的布格重力异常，作为该测量点处的第一异常，包括：

确定该测量点对应的第一目标区域；其中，所述第一目标区域为：以该测量点为中心点，且包含第一预设数量个第一测量点的区域，第一测量点为非该测量点的测量点；

基于所述第一目标区域内第一测量点处的布格重力异常，利用最佳逼近方式，确定该测量点处所述待测目标体的布格重力异常，作为该测量点处的第一异常。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一目标区域内第一测量点处的布格重力异常，利用最佳逼近方式，确定该测量点处所述待测目标体的布格重力异常，作为该测量点处的第一异常，包括：

基于所述第一目标区域内每一第一测量点处的布格重力异常和每一第一测量点的坐标，利用曲面拟合进行最佳逼近，得到所拟合的曲面函数，作为该测量点处所述待测目标体的布格重力异常函数；

将该测量点的坐标代入所述待测目标体的布格重力异常函数，得到该测量点处所述待测目标体的布格重力异常，作为该测量点处的第一异常。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个测量点处的布格重力异常，确定该测量点处所述待测目标体对应参考体的布格重力异常，作为该测量点处的第二异常，包括：

确定该测量点对应的第二目标区域；其中，所述第二目标区域为：以该测量点为中心点，且包含第二预设数量个第二测量点的区域，第二测量点与该测量点的间距大于等于两倍所述间距，相邻第二测量点之间相距两倍所述间距；

基于所述第二目标区域内第二测量点处的布格重力异常，利用最佳逼近方式，确定该测量点处所述待测目标体对应参考体的布格重力异常，作为该测量点处的第二异常。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二目标区域内第二测量点处的布格重力异常，利用最佳逼近方式，确定该测量点处所述待测目标体对应参考体的布格重力异常，作为该测量点处的第二异常，包括：

基于所述第二目标区域内每一第二测量点处的布格重力异常和每一第二测量点的坐标，利用曲面拟合进行最佳逼近，得到所拟合的曲面函数，作为该测量点处所述待测目标体对应参考体的布格重力异常函数；

将该测量点的坐标代入所述参考体的布格重力异常函数，得到该测量点处所述参考体的布格重力异常，作为该测量点处的第二异常。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设条件为：

其中，ΔX为间距，h为指定深度，a为预设参数。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述基于每一测量点处所述待测目标体的局部重力异常，对所述待测目标体进行密度反演，得到所述待测目标体在横向截面上的密度分布，包括：

将每一测量点处所述待测目标体的局部重力异常代入层密度反演公式，得到所述待测目标体在横向截面上的密度分布；

其中，所述层密度反演公式为：密度反演公式在待测目标体的纵向截面密度不变的情况下的形变公式。