[发明专利]面包板及测试设备

说明书

本发明公开了一种面包板及测试设备，涉及电子技术领域。本发明通过设置底板、顶板及触点阵列构成面包板；其中，底板设置有多条第一导通线；顶板设置有多条第二导通线；触点阵列，设置于底板与顶板之间，触点阵列中各触点的第一连接端与第一导通线连接、触点的第二连接端与第二导通线连接、触点的第三连接端与测试元件连接。在本发明中，测试元件插接在触点上，各测试元件之间可经触点及导通线连接，从而减少额外走线，线路简洁，便于测试人员进行调整。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种面包板及测试设备。

背景技术

在电子产品的设计初期，往往需要对设计电路功能进行测试，这一点是软件仿真不可替代的。目前，测试的方法主要为：利用面包板进行元器件插接，该法插好元器件后，进行走线连接，再执行测试。然而，这种方式往往存在较多走线，在电路出错时，从错乱复杂的外接线中，很难找出问题所在，走线调整难度大。因此，如何方便地对电路进行测试，是亟待解决的技术问题。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种面包板及测试设备，旨在解决现有技术中面包板走线多，调整难度大的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出一种面包板，面包板包括：

底板，设置有多条第一导通线；

顶板，设置有多条第二导通线；

触点阵列，设置于底板与顶板之间，触点阵列中各触点的第一连接端与第一导通线连接、触点的第二连接端与第二导通线连接、触点的第三连接端与测试元件连接。

可选的，多条第一导通线在底板上沿第一方向平行设置。

可选的，多条第二导通线在顶板上沿第二方向平行设置。

可选的，第一方向与第二方向相互垂直。

可选的，触点包括第一开关、第二开关和导通件；

导通件的第一连接端与第一开关的第一端连接、导通件的第二连接端与第二开关的第一端连接、导通件的第三连接端与测试元件连接，第一开关的第二端与第一导通线连接，第二开关的第二端与第二导通线连接。

可选的，面包板还包括控制电路，第一开关的第三端及与第二开关的第三端均与控制电路的输出端连接；

控制电路，用于向第一开关和/或第二开关输出控制信号，以控制第一开关和/或第二开关的通断。

可选的，第一开关为MOS管电子开关，MOS管电子开关的控制端与控制电路的输出端连接，MOS管电子开关的第一连通端与底板上的第一导通线连接，MOS管电子开关的第二连通端与顶板上的第二导通线连接。

可选的，控制电路包括微控制器和多个位移缓存器，微控制器分别与各位移缓存器连接，位移缓存器与第一开关和/或第二开关连接；

位移缓存器，用于将微控制器发送的控制信号转换成驱动信号，并根据驱动信号控制第一开关和/或第二开关的通断。

可选的，控制电路还包括通信电路，通信电路与微控制器连接；

微控制器，用于根据通信电路发送的控制信息生成控制信号。

为实现上述目的，本发明还提出一种测试设备，测试设备包括如上述的面包板。