[发明专利]一种轮轨接触几何参数测量方法有效
申请号: | 202110752175.8 | 申请日: | 2021-07-02 |
公开(公告)号: | CN113446939B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 尹辉;许宏丽;黄华;白新宇;徐鹏;韩明 | 申请(专利权)人: | 北京交通大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;B61K9/08 |
代理公司: | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人: | 姜威 |
地址: | 100044 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 几何 参数 测量方法 | ||
1.一种轮轨接触几何参数测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1对轮轨点云进行平面基元和圆柱体基元检测;
S2在步骤S1的检测结果中提取轮缘内侧面所在基元,并根据轮缘内侧面所在基元的信息粗分割轮缘部分点云;
S3对粗分割后的轮缘部分点云进行圆环基元检测,提取轮缘部分以及轨底部分对应基元,得到对应基元参数;
S4根据所述基元参数计算轮对中心点、轨底中心点,获取轮轴方向;
S5根据S4的计算结果测量轮对横移量、轮对侧滚角、轮对摇头角以及轮对沉浮量,并定位点云中属于铁轨踏面的点;
S6对点云进行切片,并去除各点云片中属于铁轨踏面的点;
S7基于RANSAC算法对去除踏面点后的点云点进行切片圆结构信息拟合,得到切片圆的圆心和半径;
S8计算每个切片中铁轨踏面上的点到切片圆圆心的距离,其小于一定阈值的点的集合即为接触斑;
S9根据接触斑中的所有点的坐标测量接触斑的长、短轴长。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S1之前还需要将轮轨点云数据进行处理,为轮对和轨道建立两个不同的坐标系,当轮对位于运行正常位置上时,以轮对轴心中点为原点建立Ow-XwYwZw轮对坐标系,轮对坐标系随着轮对相对于轨道运动;以两侧轨面中心的中心点为原点建立Or-XrYrZr随行坐标系,使轨底所在平面与随行坐标系Or-XrYrZr中的XrOrYr平面平行,其中,Xr为轨面水平延伸方向,Yr在轨底所在平面上且与Xr垂直,Zr垂直于轨底所在平面,Xw、Yw、Zw分别与Xr、Yr、Zr平行,建立坐标系为正常情况下的坐标系,轮对坐标系和随行坐标系的各个坐标轴是两两平行的,仅Zr和Zw在Z轴方向上存在差值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述S2包括:
步骤S21:根据轮对内侧距以及轮缘内侧面相互平行的约束条件,在S1中得基元检测结果中提取双侧轮缘内侧面Ω1作为左侧轮对轮缘内侧面和Ω2作为右侧轮对轮缘内侧面;
步骤S22:根据标准轮缘厚度,计算出与平面Ω1和Ω2分别相距标准轮缘厚度的平面Ω1′和Ω2′的平面参数,在轮轨点云数据正视图上对应;
步骤S23:根据和将轮轨原点云中的轮缘部分进行粗分割,其中为轮轨点云中任意一点p到平面Ωi的欧氏距离,为轮轨点云中任意一点p到平面Ωi′的欧氏距离,i=1,2。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述S3中的提取轮缘部分以及轨底部分对应基元,并获取对应基元参数,包括:
步骤S31:根据下述三个条件对轨底基元进行提取:1)要提取的模型基元类型为平面;2)提取平面的法向量与Zr方向平行;3)提取平面的z坐标数值最小;
步骤S32:根据下述三个条件对轮缘部分的基元进行提取:1)提取的基元类型为圆环基元,包含八个参数,其中,为圆环轴方向,包含三个参数,Center为圆环轴中心,包含三个参数,radiuMax为圆环大半径,包含一个参数,radiuMin为圆环小半径,包含一个参数;2)车轮轮缘半径;3)提取的圆环基元To的法向量与轮缘内侧面法向量平行,且满足其中,θ为设定阈值。
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