[发明专利]高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器

权利要求书

1.一种高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器，包括基底，在基底中心布设中心空气孔，其特征在于：中心空气孔周围设置四层小空气孔，距离中心空气孔最近的为第一层小空气孔，向外依次为第二层小空气孔、第三层小空气孔和第四层小空气孔，中心空气孔的上部和下部对应的第三层小空气孔删除部分形成上纤芯C₁和下纤芯C₂，在上纤芯C₁上方设置上部大空气孔A，在下纤芯C₂下方设置下部大空气孔B，上部大空气孔A和下部大空气孔均为D型大空气通道，D型大空气通道的平面均对应中心空气孔设置，且D型大空气通道的平面上均沉积金纳米层。

2.根据权利要求1所述的高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器，其特征在于：D型大空气通道的平面上均匀沉积相同厚度的金纳米层。

3.根据权利要求1所述的高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器，其特征在于：所述四层小空气孔呈辐射状正六角形排列，小空气孔半径为0.4 μm，相邻小空气孔中心之间的间距为2 μm。

4.根据权利要求1所述的高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器，其特征在于：上纤芯C₁、下纤芯C₂与中心空气孔的垂直距离均为3.464 μm。

5.根据权利要求1所述的高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器，其特征在于：上部大空气孔A位于上纤芯C₁的正上方，下部大空气孔B位于下纤芯C₂的正下方，上部纤芯C₁和下部纤芯C₂的半径均为5.29 μm，与中心空气孔的垂直距离均为6.2 μm。

6.根据权利要求1所述的高灵敏度双芯双样品同步检测的光子晶体光纤传感器，其特征在于：上部大空气孔A的平面上镀金纳米层的厚度和下部大空气孔B的平面上镀金纳米层的厚度均为40 nm。