[发明专利]一种提高测距准确性的自适应单锭检测系统的方法

说明书

本发明涉及一种提高测距准确性的自适应单锭检测系统的方法，采集头的输出端与多路增益选择器的第一输入端端相连接，有源低通滤波器的输出端与过零反向放大电路的输入端相连接，过零反向放大电路的第一输出端与比较器的同向输入端相连接，过零反向放大电路的第二输出端与ADC取样电路的输入端相连接，DAC的输出端与比较器的反向输入端相连接，ADC取样电路的输出端与主处理器的第一输入端相连接，比较器的输出端与主处理器的第二输入端相连接，主处理器的第一输出端与多路增益选择器的第二输入端相连接，主处理器的第二输出端与DAC的输入端相连接。本发明无需用户参与便可实现单锭检测的自动调节，且数据准确。

技术领域

本发明涉及细纱机纺织单锭检测相关技术领域，尤其涉及一种提高测距准确性的自适应单锭检测系统的方法。

背景技术

因细纱机环境噪音大，用工成本增加，人员稳定性较大，导致熟练挡车工的缺乏，因此当环锭上纱线断头时，挡车工有90％时间用于寻找断头位置，人员效率低，目前纺织领域智能改造升级迫在眉睫，故环锭检测系统呼之欲出。现有技术需根据安装距离及钢丝圈的粗细手动调节增益和阈值，因变量较多，故对使用者要求较高，操作复杂，很难做到一次调整到位且数据准确。

有鉴于上述的缺陷，本设计人积极加以研究创新，以期创设一种提高测距准确性的自适应单锭检测系统的方法，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种提高测距准确性的自适应单锭检测系统的方法。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

本发明目的之一：

一种提高测距准确性的自适应单锭检测系统，包括若干个采集头，采集头的输出端与多路增益选择器的第一输入端端相连接，多路增益选择器的输出端与一级放大预处理电路的输入端相连接，一级放大预处理电路的输出端与有源低通滤波器的输入端相连接，有源低通滤波器的输出端与过零反向放大电路的输入端相连接，过零反向放大电路的第一输出端与比较器的同向输入端相连接，过零反向放大电路的第二输出端与ADC取样电路的输入端相连接，DAC的输出端与比较器的反向输入端相连接，ADC取样电路的输出端与主处理器的第一输入端相连接，比较器的输出端与主处理器的第二输入端相连接，主处理器的第一输出端与多路增益选择器的第二输入端相连接，主处理器的第二输出端与DAC的输入端相连接。

作为本发明的进一步改进，一级放大预处理电路包括芯片U3，芯片U3的型号为OPA17X，芯片U3的第一引脚与OUT-A端相连接，芯片U3的第二引脚与电阻R4的一端相连接，电阻R4的另一端与芯片U3的第一引脚相连接，电容C2并接在电阻R4上，芯片U3的第二引脚与电阻R1的一端相连接，电阻R1的另一端与电容C6的一端相连接，电容C6的另一端与net-A端相连接，电阻R2的一端与+5V相连接，电阻R2的另一端与电阻R3的一端串联，电阻R3的另一端接地，电阻R2和电阻R3的相连接处连接至芯片U3的第三引脚，电容C1并接在R3上，芯片U3的第五引脚与+5V相连接，芯片U3的第四引脚接地。

作为本发明的进一步改进，有源低通滤波器包括芯片U1，芯片U1型号为OPA17X，芯片U1的第一引脚与OUT-B端相连接，芯片U1的第二引脚与电容C4的一端相连接，电容C4的另一端接地，芯片U1的第二引脚与电阻R6的一端相连接，电阻R6的另一端与电阻R5的一端相连接，电阻R5的另一端与OUT-A端相连接，芯片U1的第三引脚与电容C3的一端相连接，电容C3的另一端与电阻R5的一端相连接，芯片U1的第三引脚与芯片U1的第二引脚相连接，芯片U1的第四引脚与+5V相连接，芯片U1的第五引脚接地。