[发明专利]纳米颗粒粒径浓度检测系统及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202110709229.2 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113433041A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 刘超;田飞;邓瑾琦;孙佳姝 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/10
代理公司: 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11521 代理人: 刘丹妮
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 纳米 颗粒 粒径 浓度 检测 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述纳米颗粒粒径浓度检测系统包括样本收集清洗系统、检测芯片和激光器,所述样本收集清洗系统与所述检测芯片连接,控制样本与清洗溶液在检测芯片中的流动。

2.根据权利要求1所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述样本收集清洗系统包括样本采集管、样本检测传感器、样本收集管、样本收集机械臂运动模块、蠕动泵、多通道阀和废液收集管。

3.根据权利要求2所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述样本采集管安装在所述样本检测传感器上;和/或

所述样本采集管通过样本收集机械臂运动模块移动。

4.根据权利要求2或3所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述蠕动泵的入口与样本收集管通过导管连接,蠕动泵出口与多通道阀连接,多通道阀分别与检测芯片、清洗溶液连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述检测芯片包括温控系统和腔体。

6.根据权利要求5所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述温控系统包括温控散热片、隔热层、半导体温控片、导热片、隔热层、温度传感器安装孔、传感器。

7.根据权利要求5或6所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述检测芯片的腔体包括上盖板、下底板和通道层;

优选地,所述上盖板、通道层、下盖板通过密封胶和/或胶垫实现密封。

8.据权利要求7所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述上盖板上设置有芯片出口和芯片入口;和/或

所述下底板的材料为透明材料;优选地,所述下底板材料选自以下一种或多种:玻璃、石英、蓝宝石和有机玻璃。

9.据权利要求7或8所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统,其特征在于,所述通道层包含通道结构用于存储检测液;

优选地,所述通道层的侧面材料为透明材料,使激光可以照射进入;

更优选地,所述通道层的侧面材料选自以下一种或多种:玻璃、石英、蓝宝石和有机玻璃。

10.一种纳米颗粒粒径浓度检测方法,其特征在于,所述方法使用权利要求1至9中任一项所述的纳米颗粒粒径浓度检测系统进行检测。

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