[发明专利]一种双园区的数据校验方法及装置

说明书

本发明提供一种双园区的数据校验方法及装置，涉及大数据技术领域。所述方法包括：周期性获取数据校验表，所述数据校验表包括主园区和备份园区的各个数据表的状态信息；其中，所述状态信息包括上一次的校验时间和校验状态；根据各个数据表的上一次的校验时间和校验状态以及数据表筛选规则，获取待校验数据表合集；其中，所述数据表筛选规则是预设的；基于优先校验规则对所述待校验数据表合集中的每张数据表进行数据校验并更新每张数据表的状态信息；其中，所述优先校验规则是预设的。所述装置用于执行上述方法。本发明实施例提供的双园区的数据校验方法及装置，实现了主园区和备份园区的数据校验，提高了数据的可靠性。

技术领域

本发明涉及大数据技术领域，具体涉及一种双园区的数据校验方法及装置。

背景技术

由于信息时代的到来，数据量急速增长，为了保障数据的安全性，需要对原始数据进行备份。

目前，企业级的大数据可以采用双园区的模式进行存储，双园区中一个是主园区，一个是备份园区，通过消息中间件实现双园区的数据复制，可以通过消息中间件将主园区的数据备份到备份园区。在实际的应用过程中，存在由于消息过期等原因导致的双园区的数据不一致的情况。因此，如何对双园区的数据进行一致性校验是目前业界亟待解决的需要课题。

发明内容

针对现有技术中的问题，本发明实施例提供一种双园区的数据校验方法及装置，能够至少部分地解决现有技术中存在的问题。

一方面，本发明提出一种双园区的数据校验方法，包括：

周期性获取数据校验表，所述数据校验表包括主园区和备份园区的各个数据表的状态信息；其中，所述状态信息包括上一次的校验时间和校验状态；

根据各个数据表的上一次的校验时间和校验状态以及数据表筛选规则，获取待校验数据表合集；其中，所述数据表筛选规则是预设的；

基于优先校验规则对所述待校验数据表合集中的每个数据表进行数据校验并更新每张数据表的状态信息；其中，所述优先校验规则是预设的。

另一方面，本发明提供一种双园区的数据校验装置，包括：

第一获取模块，用于周期性获取数据校验表，所述数据校验表包括主园区和备份园区的各个数据表的状态信息；其中，所述状态信息包括上一次的校验时间和校验状态；

第二获取模块，用于根据各个数据表的上一次的校验时间和校验状态以及数据表筛选规则，获取待校验数据表合集；其中，所述数据表筛选规则是预设的；

校验模块，用于基于优先校验规则对所述待校验数据表合集中的每张数据表进行数据校验并更新每张数据表的状态信息；其中，所述优先校验规则是预设的。

再一方面，本发明提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述任一实施例所述双园区的数据校验方法的步骤。

又一方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例所述双园区的数据校验方法的步骤。

本发明实施例提供的双园区的数据校验方法及装置，能够周期性获取数据校验表，数据校验表包括主园区和备份园区的各个数据表的状态信息，根据各个数据表的上一次的校验时间和校验状态以及数据表筛选规则，获取待校验数据表合集，基于优先校验规则对待校验数据表合集中的每张数据表进行数据校验并更新每张数据表的状态信息，实现了主园区和备份园区的数据校验，提高了数据的可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：