[发明专利]一种接头辅助插接装置有效
申请号: | 202110697521.7 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113346331B | 公开(公告)日: | 2023-02-21 |
发明(设计)人: | 顾培东;张向林 | 申请(专利权)人: | 上海捷策创电子科技有限公司 |
主分类号: | H01R43/26 | 分类号: | H01R43/26 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 李毅 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接头 辅助 插接 装置 | ||
本发明涉及辅助测试设备领域,公开了一种接头辅助插接装置,用于辅助公插头对位插接于母插头。其包括第一架体、第二架体和第三架体。第一架体垂直开设有第一定位孔;第二架体通过第一弹性件弹性连接于第一架体的一侧,第一弹性件沿第二架体的周向间隔设置有多个,第二架体相背于第一架体的一侧用于安装母插头,第二架体垂直开设有第二定位孔;第三架体与第二架体正对设置,第三架体朝向第二架体的一侧用于安装公插头,第三架体朝向第二架体的一侧垂直设有第一定位柱和第二定位柱,公插头与母插头对位插接时,第一定位柱插设于第一定位孔,第二定位柱插设于第二定位孔。本发明能够一次性实现多个公插头与多个母插头对位插接,提高了测试效率。
技术领域
本发明涉及辅助测试设备领域,尤其涉及一种接头辅助插接装置。
背景技术
在电子产品的测试产业,因行业竞争越发趋于激烈,降低测试成本是企业提高竞争力的关键因素。测试企业通常通过提升测试效率,缩短测试时间,实现降低产品的测试成本的目的,测试企业对于测试产品的测试效率的要求日益提高。
待测产品或元器件具有公插头与母插头中的一个,测试设备具有二者中的另一个,通常在测试产品时,公插头对位插接于母插头内,进行待测产品的后续性能测试。为了提升测试效率,降低产品的测试成本,因此常常在单次测试中同时插接多个公插头和多个母插头。为了便于同时将多个公插头对位插接于多个母插头上,目前采用的方法是将多个公插头安装于一个安装板上,多个母插头安装于另一个安装板上,不断调整两个安装板之间的相对位置,实现同时将多个公插头对位插接于多个母插头上,但此种方式测试时间较长,测试效率较低。因此,如何快速并准确可靠地将多个公插头一次性对位插接于多个母插头内也成为了测试企业以及测试设备制造商需要关注和解决的问题。
基于此,亟需一种接头辅助插接装置用来解决如上提到的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种接头辅助插接装置,以实现一次性多个公插头与多个母插头对位插接,提高了测试效率,降低了测试成本。
为达此目的,本发明采用以下技术方案:
一种接头辅助插接装置,用于辅助多个公插头对位插接于多个母插头,包括:
第一架体,垂直开设有第一定位孔;
第二架体,所述第二架体通过第一弹性件弹性连接于第一架体的一侧,所述第一弹性件沿所述第二架体的周向间隔设置有多个,所述第二架体相背于所述第一架体的一侧用于多个安装所述母插头,所述第二架体垂直开设有第二定位孔;
第三架体,与所述第二架体正对设置,所述第三架体朝向所述第二架体的一侧用于安装多个所述公插头,所述第三架体朝向所述第二架体的一侧垂直设有第一定位柱和第二定位柱,多个所述公插头与多个所述母插头对位插接时,所述第一定位柱插设于所述第一定位孔,所述第二定位柱插设于所述第二定位孔。
作为一种接头辅助插接装置的优选技术方案,所述第一定位柱插入所述第一定位孔的长度大于所述第二定位柱插入所述第二定位孔的长度。
作为一种接头辅助插接装置的优选技术方案,所述第一弹性件的内部穿设有第一连接件,所述第一连接件的一端与所述第一架体连接,另一端活动穿设于所述第二架体。
作为一种接头辅助插接装置的优选技术方案,所述第二架体朝向所述第三架体的一侧设有第四架体,所述第四架体朝向所述第三架体的一侧用于安装所述母插头,所述第四架体通过第二弹性件连接于所述第二架体。
作为一种接头辅助插接装置的优选技术方案,所述第二弹性件的内部穿设有第二连接件,所述第二连接件的一端与所述第二架体连接,另一端活动穿设于所述第四架体。
作为一种接头辅助插接装置的优选技术方案,所述第四架体设置有多个,每个所述第四架体均能够安装一个所述母插头,每个所述第四架体均通过多个所述第二弹性件连接于所述第二架体。
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