[发明专利]图像处理方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202110695501.6 | 申请日: | 2021-06-23 |
公开(公告)号: | CN113421199A | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 饶超;苏泳 | 申请(专利权)人: | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王兆赓;苏银虹 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
确定用于在其上渲染阴影的阴影接收模型;
对所述阴影接收模型进行离散化,以获取每个离散位置的阴影采样函数,其中,每个离散位置的阴影采样函数表示在每个离散位置发射光线的函数;
确定每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,其中,每个离散位置的阴影采样函数的采样系数反映每个离散位置被光线照射的程度;
基于外部输入的所述阴影接收模型所在空间的实时辐照图以及每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,计算每个离散位置的阴影系数,其中,每个离散位置的阴影系数反映在每个离散位置的有效光线的光强与每个离散位置的所有光线的光强的比率,其中,所述有效光线是指在每个离散位置发射的光线中未被障碍物遮挡的光线;
基于计算的每个离散位置的阴影系数,在渲染所述阴影接收模型所在空间的图像时在每个离散位置生成阴影。
2.如权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述确定每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,包括:
对每个离散位置的阴影采样函数进行球谐函数展开,确定每个离散位置的球谐系数,并将确定的每个离散位置的球谐系数作为每个离散位置的阴影采样函数的采样系数。
3.如权利要求2所述的图像处理方法,其特征在于,对于任意一个离散位置的阴影采样函数A(θ,φ),根据如下公式对所述任意一个离散位置的阴影采样函数进行球谐函数展开:
其中,
其中,θ和为球坐标系下的坐标值,表示所述阴影采样函数发射的光线的角度,Ylm()为l次m阶球谐函数,为所述球谐系数,Plm()为l次m阶连带勒让德函数,为归一化常数,
其中,根据如下公式确定所述任意一个离散位置的球谐系数:
4.如权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述基于外部输入的所述阴影接收模型所在空间的实时辐照图以及每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,计算每个离散位置的阴影系数,包括:
将所述实时辐照图从直角坐标系下转换到球坐标系下,以获得每个离散位置的球坐标系下的坐标值;
基于每个离散位置的球坐标系下的坐标值,确定每个离散位置的阴影采样函数的采样系数;
基于每个离散位置的球坐标系下的坐标值以及每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,计算每个离散位置的阴影系数。
5.如权利要求3所述的图像处理方法,其特征在于,所述基于每个离散位置的球坐标系下的坐标值以及每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,计算每个离散位置的阴影系数,包括:
根据如下公式计算每个离散位置的阴影系数L:
其中,M为大于等于1的整数,所述实时辐照图的大小为N*N。
6.如权利要求2所述的图像处理方法,其中,确定的每个离散位置的球谐系数的前若干位被存储在UV纹理通道中。
7.一种图像处理装置,其特征在于,包括:
第一确定单元,被配置为确定用于在其上渲染阴影的阴影接收模型;
阴影采样函数获取单元,被配置为对所述阴影接收模型进行离散化,以获取每个离散位置的阴影采样函数,其中,每个离散位置的阴影采样函数表示在每个离散位置发射光线的函数;
第二确定单元,被配置为确定每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,其中,每个离散位置的阴影采样函数的采样系数反映每个离散位置被光线照射的程度;
阴影系数计算单元,被配置为基于外部输入的所述阴影接收模型所在空间的实时辐照图以及每个离散位置的阴影采样函数的采样系数,计算每个离散位置的阴影系数,其中,每个离散位置的阴影系数反映在每个离散位置的有效光线的光强与每个离散位置的所有光线的光强的比率,其中,所述有效光线是指在每个离散位置发射的光线中未被障碍物遮挡的光线;
阴影生成单元,被配置为基于计算的每个离散位置的阴影系数,在渲染所述阴影接收模型所在空间的图像时在每个离散位置生成阴影。
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