[发明专利]屏体性能测试装置和屏体性能测试方法

权利要求书

1.一种屏体性能测试装置，其特征在于，包括：

衬底，所述衬底上设置有沿第一方向排列的至少四个端子固定件，各个所述端子固定件包括沿第二方向排列的多个端子固定位，各所述端子固定件固定有多个连接端子，各所述连接端子可拆卸地安装于所述端子固定位；

连接件，具有多个连接部，每个所述连接部用于连接位于沿第一方向相邻的端子固定位的两个所述连接端子。

2.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括沿所述第二方向排列的多个第一固定针组件，每个所述第一固定针组件的一端安装于所述衬底，另一端用于与所述连接端子固定，每个所述第一固定针组件包括至少一个第一固定针。

3.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括：

滑槽，所述滑槽沿所述第二方向延伸，沿所述第一方向、所述滑槽开口的宽度小于所述滑槽底壁的宽度，所述连接端子伸入滑槽的一端沿所述第一方向的宽度大于所述滑槽开口沿所述第一方向的宽度；

挡块组件，包括用于安装于所述滑槽内且位于相邻所述连接端子间的多个挡块，多个所述挡块中，一部分所述挡块安装于所述滑槽内后沿所述第二方向的长度相同、另一部分所述挡块安装于所述滑槽内后沿所述第二方向的长度不同。

4.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括用于与所述衬底压接的压接板，各所述连接端子压接于所述衬底与所述压接板之间。

5.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述端子固定件包括固定于所述衬底的磁性吸条，所述连接端子与所述磁性吸条磁吸固定。

6.根据权利要求5所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述磁性吸条为电磁铁。

7.根据权利要求1所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述连接端子包括用于连接测试设备的输出端子的第一连接端子、用于连接芯片信号输入端的第二连接端子、用于连接芯片信号输出端的第三连接端子以及用于连接待测屏体的屏体输入端子的第四连接端子，用于固定所述第一连接端子的端子固定件、用于固定所述第二连接端子的端子固定件、用于固定所述第三连接端子的端子固定件与所述第四连接端子的端子固定件沿所述第一方向依次排列，所述第一连接端子与所述第二连接端子之间通过所述连接部一一对应连接、所述第三连接端子与所述第四连接端子之间通过所述连接部一一对应连接。

8.根据权利要求7所述的屏体性能测试装置，其特征在于，所述第一连接端子、第二连接端子、所述第三连接端子和所述第四连接端子均为替换件。

9.根据权利要求7所述的屏体性能测试装置，所述连接部与所述连接端子之间压接固定。

10.一种屏体性能测试方法，其特征在于，包括：

调节第一连接端子的间距与测试设备的输出端子的间距相同，并将所述第一连接端子与所述测试设备的输出端子一一对应连接；

调节第四连接端的间距与待测屏体的屏体输入端子的间距相同，并将所述第四连接端子与所述待测屏体的屏体输入端子一一对应连接；

调节第二连接端子的间距与芯片信号输入端的间距相同，并将所述第二连接端子与所述芯片信号输入端一一对应连接，将所述第一连接端与所述第二连接端通过所述连接部一一对应连接；

调节第三连接端子的间距与芯片信号输出端的间距相同，并将所述第三连接端子与所述芯片信号输出端一一对应连接，将所述第三连接端与所述第四连接端通过所述连接部一一对应连接；

点亮所述待测屏体并观察测试结果。