[发明专利]接口测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品

说明书

本申请提供一种接口测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品。该方法包括：获取待测试接口的多个参数，并根据多个参数中每个参数的参数类型，确定每个参数的取值；根据多个测试方法，确定每个参数对应的测试数据集合，测试数据集合中包括参数的取值的代表值，以及除取值之外的其他值的代表值；根据每个参数对应的测试数据集合，生成测试用例；采用测试用例，对待测试接口进行测试。从而，提高了测试效率。

技术领域

本申请涉及测试技术，尤其涉及一种接口测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品。

背景技术

接口测试是测试系统组件间接口的一种测试，接口测试主要用于检测外部系统与系统之间以及内部各个子系统之间的交互点。

接口测试时，用户通常需要预先获取测试用例，依据测试用例执行测试。目前常用的接口测试方法中，通常是用户将需要测试接口的接口配置文件导入到系统中，系统根据接口配置文件获取接口中的相关参数的说明，并通过全面实验法生成测试用例，以进行测试。

然而，这种采用全面实验法的方案中，需要对接口的参数的所有组合全部实施一次以上的测试，导致测试次数太多，工作量太大，效率较低。

发明内容

本申请提供一种接口测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品，提高了测试效率。

第一方面，本申请提供一种接口测试方法，包括：

获取待测试接口的多个参数，并根据所述多个参数中每个参数的参数类型，确定所述每个参数的取值；

根据多个测试方法，确定所述每个参数对应的测试数据集合，所述测试数据集合中包括所述参数的取值的代表值，以及除所述取值之外的其他值的代表值；

根据所述每个参数对应的测试数据集合，生成测试用例；

采用所述测试用例，对所述待测试接口进行测试。

在一种实施方式中，所述根据所述多个测试方法，确定所述每个参数对应的测试数据集合，包括：

针对每个参数，确定所述多个测试方法中每个测试方法对应的测试数据子集；

确定多个测试数据子集的并集；

将所述并集中的测试数据去重，得到所述每个参数对应的测试数据集合。

在一种实施方式中，所述测试方法中包括等价类划分法；

所述确定所述多个测试方法中每个测试方法对应的测试数据子集，包括：

根据业务规则，利用等价类划分法对所述每个参数的取值进行划分，得到有效等价类和无效等价类；

分别从所述有效等价类和所述无效等价类中确定部分测试数据，得到所述等价类划分法对应的测试数据子集。

在一种实施方式中，所述测试方法中还包括边界值分析法；

所述确定所述多个测试方法中每个测试方法对应的测试数据子集，包括：

确定所述有效等价类的边界值，以形成所述分析法对应的测试数据子集。

在一种实施方式中，所述根据所述每个参数对应的测试数据集合，生成所述待测试接口的测试用例，包括：

确定所述每个参数对应的测试数据集合对应的笛卡尔积，得到多个参数对应的目标测试集合；

将所述目标测试集合中的每个元素分别导入预设模板中，得到所述待测试接口的测试用例。

在一种实施方式中，所述采用所述测试用例，对所述待测试接口进行测试，包括：

根据所述待测试接口的报文格式和所述测试用例，生成测试报文；