[发明专利]一种便携式平面近场测试系统、方法及终端有效
| 申请号: | 202110650252.9 | 申请日: | 2021-06-10 |
| 公开(公告)号: | CN113452456B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
| 发明(设计)人: | 余浪;汪渊;邱忠云;郑轶;吕清刚;杨迅 | 申请(专利权)人: | 成都华芯天微科技有限公司 |
| 主分类号: | H04B17/12 | 分类号: | H04B17/12;H04B17/21 |
| 代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 张巨箭 |
| 地址: | 610000 四川省成都市中国(四川)自由*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 便携式 平面 近场 测试 系统 方法 终端 | ||
1.一种便携式平面近场测试系统,其特征在于:所述系统包括屏蔽暗箱,还包括设于屏蔽暗箱内的四轴机械臂、天线升降台、控制与数据处理子系统、信号发生器和多通道信号接收机,所述四轴机械臂上携带有测试探头,天线升降台上可拆卸安装有待测天线;
所述测试探头、待测天线均与信号发生器连接,且测试探头、待测天线均与多通道信号接收机连接,信号发生器、多通道信号接收机、待测天线、四轴机械臂与控制与数据处理子系统连接,控制与数据处理子系统控制四轴机械臂运动至待测天线各通道;
所述信号发生器包括顺次连接的晶振、第一功分器,第一功分器一输出端依次连接有倍频器、DDS信号发生器、第一鉴相器、第一低通滤波器、第一压控振荡器、第一定向耦合器、第一放大器、第一分频器、第一混频器;
第一功分器另一输出端连接有第二功分器,第二功分器一输出端依次连接有第二鉴相器、第二低通滤波器、第二压控振荡器、第二定向耦合器、第二分频器、第二放大器、梳状波发生器,梳状波发生器与第一混频器输入端连接,第一混频器输出端依次连接有第一射频低通滤波器、第三放大器、第二射频低通滤波器,第二射频低通滤波器输出端与第一鉴相器连接;
第二功分器另一输出端依次连接有锁相介质振荡器、第二混频器;第二定向耦合器另一输出端经第四放大器连接至第二混频器,第二混频器输出端经第三射频低通滤波器与第二鉴相器连接;
第一定向耦合器输出端依次连接有第三分频器、数控衰减器,数控衰减器为信号发生器的信号输出端。
2.根据权利要求1所述便携式平面近场测试系统,其特征在于:所述屏蔽暗箱上铺设有吸波材料,吸波材料长度大于等于1/2倍待测天线的最长波长。
3.根据权利要求1所述便携式平面近场测试系统,其特征在于:所述信号发生器还包括温补模块,温补模块与数控衰减器输出端连接。
4.根据权利要求1所述便携式平面近场测试系统,其特征在于:所述多通道信号接收机包括若干接收通道模块,接收通道模块包括两路信号接收电路,信号接收电路包括顺次连接的第一模数转换器、正交调制器,正交调制器的I路输出端、Q路输出端均连接有滤波器,滤波器输出端与数据处理器连接,数据处理器与控制与数据处理子系统连接。
5.一种便携式平面近场测试方法,其特征在于:所述方法包括通道校准步骤:
获取待测天线中各通道的平面坐标信息;
根据所述平面坐标信息计算各通道与四轴机械臂的坐标映射关系,进而控制携带有测试探头的四轴机械臂运动至待测天线各通道;
采集四轴机械臂运动至待测天线对应通道时的幅相数据,直至完成所有通道的幅相数据采集,得到幅相数据补偿表;
根据所述幅相数据补偿表在波束合过程中对相应的通道进行幅度、相位补偿处理;
所述通道校准步骤还包括通道互耦及空间干扰去除步骤,具体包括:
产生具有第一幅度相位值的测试信号并输入至当前通道,采集当前通道反馈测试信号中的第一幅相值数据a;
产生具有第二幅度相位值的测试信号并输入至当前通道,采集当前通道反馈的测试信号的第二幅相值数据b,且第二幅度相位值为第一幅度相位值的反向状态,则当前通道的真实幅相数据a1为:
6.根据权利要求5所述便携式平面近场测试方法,其特征在于:所述通道校准步骤还包括通道诊断子步骤,具体包括:
产生通道测试信号并输入至待测通道,所述通道测试信号为幅度值保持不变,相位值以步长n递增的多个测试信号;
分析待测通道反馈的多个测试信号,若待测通道反馈的多个测试信号的幅度值相同且相位值以步长n递增,待测通道正常,反之,待测通道异常。
7.根据权利要求5所述便携式平面近场测试方法,其特征在于:所述方法还包括口面扫描步骤,具体包括:
控制四轴机械臂携带测试探头沿待测天线口面进行平面扫描,并以步进dx采集待测天线当前的幅相数据;
重复上述步骤,直至完成待测天线的全口面扫描,获得待测天线口面扫描数据。
8.一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令,其特征在于:所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求5-7任意一项所述便携式平面近场测试方法的步骤。
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