[发明专利]一种探针中部架空式全检治具

说明书

本发明公开了一种探针中部架空式全检治具，包括：底座，所述底座内设置有滑槽，所述滑槽内至少设置有一个凸台，底座靠近其内侧的上表面以及每个所述凸台的上表面两侧沿均设置有多个第一限位槽；检测板，所述检测板上设置有与凸台相匹配且等数量的限位孔，每个所述限位孔的上表面两侧沿均布置有多个第二限位槽。该探针中部架空式全检治具，解决了现有光学检测机检测测试探针的外径时，存在难以获取测试探针两端外径尺寸信息的问题。

技术领域

本发明属于探针检测设备技术领域，具体涉及一种探针中部架空式全检治具。

背景技术

测试探针又称半导体探针，由针管、弹簧和针头组成。测试探针组装完毕后，需要对其外径的尺寸进行检测，确保其达标后才能确定为合格产品。

由于测试探针的外径较小，一般为几毫米，使用现有量尺进行测试时，其测试结果往往误差较大，目前主要采用光学检测机进行测量。但是现有光学检测机没有专门针对测试探针获取其尺寸信息的辅助设备，因此设计一款匹配光学检测机进行测量，起辅助作用的检测装置就变得十分重要了。

发明内容

本发明的目的是提供一种探针中部架空式全检治具，解决现有光学检测机检测测试探针的外径时，存在难以获取测试探针两端外径尺寸信息的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种探针中部架空式全检治具，包括：

底座，所述底座内设置有滑槽，所述滑槽内至少设置有一个凸台，底座靠近其内侧的上表面以及每个所述凸台的上表面两侧沿均设置有多个第一限位槽；

检测板，所述检测板上设置有与凸台相匹配且等数量的限位孔，每个所述限位孔的上表面两侧沿均布置有多个第二限位槽。

作为本发明的一种优选的技术方案，还包括限位框，所述限位框设置在所述底座上，所述检测板位于所述限位框内。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述凸台的数量为三。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述底座和限位框的边上均设置有螺孔，每对螺孔中设置有螺栓。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述底座和限位框的边上布置的螺孔数量为二，并分别布置在两相对边上。

本发明的有益效果是：（1）本发明的一种探针中部架空式全检治具，底座、检测板和限位框组装在一起时，可以将测试探针装入底座和凸台上对应的第一限位槽和第二限位槽中，此后取出装满测试探针的检测板放置在光学检测机的信息采集区，当光从检测板的下方照入时，光照在测试探针的两端，此时光学检测机可从上方拍摄出带有测试探针两端轮廓的照片，光学检测机对照片就行分析，测定出图片中测试探针的两端外径尺寸，通过对比确定该尺寸是否达标；（2）本发明的一种探针中部架空式全检治具，检测板上设计有多个第二限位槽，每对第二限位槽中均可放置一个测试探针，因而一次可检测多个测试探针的两端外径尺寸，具有较高的检测效率；（3）本发明的一种探针中部架空式全检治具，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的一种探针中部架空式全检治具的分解图；

图2为本发明的一种探针中部架空式全检治具的组装图；

图3为图1去除限位框后的结构示意图；

图4为本发明的一种探针中部架空式全检治具中限位框的结构示意图。

图中：1.底座，2.第一限位槽，3.限位孔，4.限位框，5.第二限位槽，6.检测板，7.凸台。

具体实施方式