[发明专利]短路测试装置

说明书

一种电气设备系统，用于在电负载网络(1)中发生短路的情况下防止所述负载网络(1)接通，所述电气设备系统包括：开关(2)；耦合到所述开关(2)的联锁单元(6)；可耦合到所述负载网络(1)的短路测试装置(7)，其中所述短路测试装置(7)包括电压源(11)、测量单元(12)以及连接到所述电压源(11)和所述测量单元(12)的控制单元(13)，所述控制单元(13)适于使所述电压源(11)向所述负载网络(1)施加测试电压，并且用于将响应于所述测试电压而记录的测量信号与预定义的短路标准进行比较，并且在所记录的测量信号符合所述标准的情况下将保护信号输出到所述联锁单元(6)。

技术领域

本公开涉及一种短路测试装置。

背景技术

电负载网络或负载电网通过开关(尤其是断路器)与上游网络(通常是公用网络或电网)分离。在开关或断路器处于断开状态(通常是在短路击穿(shot down)之后)的情况下，负载网络的电气状态不明确。即使电气错误似乎可以修复，也不能确定这是唯一的错误还是没有新的错误发生。在使用期限短路期间尝试接通断路器会在开关的触点处产生大量电弧，并腐蚀触点。处于短路状态的典型电流在240V电网中为6000A。特别是对于具有高于600V的较高电压的电网来说，在短路条件下这种不完整的开关动作会大大缩短低开关的使用寿命。

发明内容

本发明的目的是通过提供一种延长开关(特别是断路器)的使用寿命并减少触点腐蚀的装置来克服现有技术的缺点。

根据本发明，这一目的通过如下的特征解决。

一种短路测试装置，其具有将耦合到电负载网络的第一负载线路导体的第一线路测试导体以及将耦合到所述电负载网络的中性导体的中性测试导体，所述短路测试装置包括：

-电压源，所述电压源可切换到所述第一线路测试导体和所述中性测试导体，以输出可预定义的测试信号，

-测量单元，所述测量单元适于测量电压和/或电流，所述测量单元包括测量输入端，所述测量输入端可连接到所述第一线路测试导体和所述中性测试导体，所述测量单元还包括用于提供测量信号的输出端，以及

-控制单元，所述控制单元连接到所述电压源和所述测量单元，所述控制单元适于使所述电压源向所述第一线路测试导体和所述中性测试导体施加测试电压，并且为了将所述测量单元响应于所述测试信号而提供的所述测量信号与至少一个预定义的短路标准进行比较，所述控制单元还适于在所记录的测量信号符合所述短路标准的情况下，在保护输出端处输出保护命令。

一种用于检查电路中的负载的方法，所述方法包括以下步骤：

-检查将所述负载连接到开关上游的公用网络的所述开关是被切断还是跳闸，

-倘若所述开关处于断开状态，则通过所述开关下游的电负载网络的导体的多个成对组合将测量单元连接到所述负载，

-对所述成对组合中的每一个，将测试信号施加到所述负载，并将响应与指示无故障负载的响应进行比较，以及

-在所有所述响应均指示无故障负载的情况下允许接通所述开关，而在任何所述响应均指示有故障负载的情况下禁止接通所述开关。

因此，将延长开关(特别是断路器)的使用寿命。由于可以在短路状态期间防止开关，因此不会发生过度的触点腐蚀。减少或避免触点腐蚀在较长的使用寿命内保持低触点区域电阻。低触点电阻将耗散的能量和开关内部的温度保持在低水平。低温延长开关内部电子组件的使用寿命。

通常，在所述比较的结果形成OR逻辑的输入的情况下，在所公开方法的上下文中是有利的，并且在OR逻辑的输出为假的情况下允许接通开关，而在OR逻辑的输出为真的情况下禁止接通开关。因此，可以使用技术复杂度低的可靠装置来实现用于允许或禁止接通开关的逻辑。OR逻辑可以由软件或硬件来实施。特别地，所述软件可以在短路测试装置的控制单元中运行。