[发明专利]一种基于双层亚波长孔结构的径向剪切波前测量系统有效
申请号: | 202110622711.2 | 申请日: | 2021-06-04 |
公开(公告)号: | CN113218519B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 彭琛;魏继锋;周文超;陈刚;温中泉;张志海;黄德权;梁高峰;周毅 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 陈法君 |
地址: | 621000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 双层 波长 结构 径向 剪切 测量 系统 | ||
1.一种基于双层亚波长孔结构的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述径向剪切波前测量系统至少包括:双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)、CCD图像传感器(5)和波前重建单元(7),
所述双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)被配置为将待检测光束波前(1)分为两束孔径不同且面型一致的波前,并将两束波前照射至所述CCD图像传感器(5)之上;
其中,所述双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)包括若干径向剪切干涉单元,各径向剪切干涉单元具有双层亚波长孔结构,双层亚波长孔结构通过改变每一层的圆孔直径参数,实现振幅连续调控和相位二值调控;
所述CCD图像传感器(5)被配置为基于接受的两束波前形成干涉图像;
所述波前重建单元(7)被配置为基于从所述CCD图像传感器(5)获得的干涉图像完成待检测光束波前(1)的信息重建。
2.如权利要求1所述的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)由双层亚波长孔结构按照相位调控参数以进行排列,
所述相位调控参数满足:
其中,r为平面透镜上的空间极坐标的极径,d1=λf1,d2=λf2,f1和f2分别为双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)的两个焦距,λ为光波长,j为复数中虚数的表示算符,T为双层亚波长孔结构的环带的周期,ri=i×T(i=1,2…n);双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)以圆心划分成若干个宽度为T的环带区域,ri≤rri+T,其中T≤λ/2。
3.如权利要求1或2所述的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述波前重建单元(7)被配置为:
根据获取的干涉图像中圆环形载频模式解出波前相位差;
并根据双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)分出的两束孔径不同波前的相似性,采用基于Zernike多项式的模式波前重构算法,重构待测波前;
并按路径反推获得入射波前分布。
4.如权利要求1所述的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述径向剪切波前测量系统还包括位移调节装置(6),
所述CCD图像传感器(5)设置于所述位移调节装置(6)之上,
所述位移调节装置(6)被配置为完成所述CCD图像传感器(5)与双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)之间的位置调节。
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