[发明专利]一种基于双层亚波长孔结构的径向剪切波前测量系统有效

专利信息
申请号: 202110622711.2 申请日: 2021-06-04
公开(公告)号: CN113218519B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 彭琛;魏继锋;周文超;陈刚;温中泉;张志海;黄德权;梁高峰;周毅 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 陈法君
地址: 621000 四川省*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 双层 波长 结构 径向 剪切 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种基于双层亚波长孔结构的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述径向剪切波前测量系统至少包括:双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)、CCD图像传感器(5)和波前重建单元(7),

所述双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)被配置为将待检测光束波前(1)分为两束孔径不同且面型一致的波前,并将两束波前照射至所述CCD图像传感器(5)之上;

其中,所述双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)包括若干径向剪切干涉单元,各径向剪切干涉单元具有双层亚波长孔结构,双层亚波长孔结构通过改变每一层的圆孔直径参数,实现振幅连续调控和相位二值调控;

所述CCD图像传感器(5)被配置为基于接受的两束波前形成干涉图像;

所述波前重建单元(7)被配置为基于从所述CCD图像传感器(5)获得的干涉图像完成待检测光束波前(1)的信息重建。

2.如权利要求1所述的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)由双层亚波长孔结构按照相位调控参数以进行排列,

所述相位调控参数满足:

其中,r为平面透镜上的空间极坐标的极径,d1=λf1,d2=λf2,f1和f2分别为双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)的两个焦距,λ为光波长,j为复数中虚数的表示算符,T为双层亚波长孔结构的环带的周期,ri=i×T(i=1,2…n);双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)以圆心划分成若干个宽度为T的环带区域,ri≤rri+T,其中T≤λ/2。

3.如权利要求1或2所述的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述波前重建单元(7)被配置为:

根据获取的干涉图像中圆环形载频模式解出波前相位差;

并根据双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)分出的两束孔径不同波前的相似性,采用基于Zernike多项式的模式波前重构算法,重构待测波前;

并按路径反推获得入射波前分布。

4.如权利要求1所述的径向剪切波前测量系统,其特征在于,所述径向剪切波前测量系统还包括位移调节装置(6),

所述CCD图像传感器(5)设置于所述位移调节装置(6)之上,

所述位移调节装置(6)被配置为完成所述CCD图像传感器(5)与双层亚波长孔结构阵列径向剪切干涉板(2)之间的位置调节。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所,未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110622711.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top