[发明专利]测试机构有效
申请号: | 202110606687.3 | 申请日: | 2021-05-31 |
公开(公告)号: | CN113395649B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 刘秀辉;周广福;刘飞 | 申请(专利权)人: | 歌尔股份有限公司 |
主分类号: | H04R29/00 | 分类号: | H04R29/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 陈小娟 |
地址: | 261031 山东省潍*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 机构 | ||
本发明公开一种测试机构。其中,测试机构包括安装座和至少一个浮动下压装置,安装座设有至少一个第一定位孔;每一浮动下压装置包括压块、连接件及缓冲组件,压块设有与第一定位孔连通的第二定位孔,压块用于密封待测件的声孔;连接件的一端转动设于第一定位孔和第二定位孔内,且压块可沿连接件的轴向移动,连接件的另一端设有外螺纹;缓冲组件包括弹性件和调节件,调节件设有与外螺纹螺纹配合的内螺纹,调节件与连接件螺纹连接;弹性件的两端分别与压块和调节件连接;其中,连接件转动带动调节件靠近或远离压块。本发明可调节待测件受到的压力大小。同时,弹性件还可起到缓冲作用,减轻测试机构的振动对待测件产生的影响。
技术领域
本发明涉及微电声传感器检测设备技术领域,特别涉及一种测试机构。
背景技术
在微电声传感器的组装生产过程中,PCB与外壳的焊锡精度要求比较高,但是,再先进的焊接工艺也不能保证百分百的良率。产品的焊接不良会造成产品漏声,影响产品性能。能够测试出产品是否漏声是该领域即将需要面对的课题,尤其是在产品大货的自动测试过程中,与产品接触部件的压力会直接影响产品的测试结果,压力过大,会造成漏声产品检测不出来;压力过小,产品声孔密封不良,造成误判。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种测试机构,旨在实现测试机构对待测件的压力可调节。
为实现上述目的,本发明提出的测试机构,用于待测件的漏声测试,所述测试机构包括安装座和至少一个浮动下压装置,所述安装座设有至少一个第一定位孔;
每一所述浮动下压装置包括:
压块,所述压块设有与所述第一定位孔连通的第二定位孔,所述压块用于密封所述待测件的声孔;
连接件,所述连接件的一端转动设于所述第一定位孔和所述第二定位孔内,且所述压块可沿所述连接件的轴向移动,所述连接件的另一端设有外螺纹;及
缓冲组件,所述缓冲组件包括弹性件和调节件,所述调节件设有与所述外螺纹螺纹配合的内螺纹,所述调节件与所述连接件螺纹连接;所述弹性件的两端分别与所述压块和所述调节件连接;
其中,所述连接件转动带动所述调节件靠近或远离所述压块。
在本发明的一实施例中,所述安装座设有第一容置腔,所述第一定位孔与所述第一容置腔连通;所述连接件穿入所述第一容置腔内,所述弹性件和所述调节件位于所述第一容置腔内;
所述压块包括:
滑动件,所述滑动件设有所述第二定位孔,所述滑动件活动设于所述第一容置腔内;和
密封件,所述密封件与所述滑动件连接,所述密封件用于密封所述待测件的声孔。
在本发明的一实施例中,所述密封件包括:
支撑块,所述支撑块与所述滑动件连接,所述支撑块设有安装槽;和
密封本体,所述密封本体设于所述安装槽内,用于密封所述待测件的声孔。
在本发明的一实施例中,每一所述浮动下压装置还包括第一导向件,所述第一导向件设于所述第一容置腔内,并与所述安装座连接;
所述滑动件设有第一导向孔,所述第一导向孔与所述第二定位孔呈平行且间隔设置;所述第一导向件穿入所述第一导向孔内,并与所述滑动件滑动连接。
在本发明的一实施例中,所述测试工装还包括定位块,所述定位块设于所述安装座,所述定位块设有定位孔,所述定位孔与所述第一容置腔连通;
所述连接件邻近所述调节件的一端设有定位凸台,所述定位凸台穿入所述定位孔内。
在本发明的一实施例中,所述密封件设有让位孔;
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