[发明专利]显示面板及测试装置

说明书

本发明提供一种显示面板及测试装置，显示面板包括阵列基板，以及测试电路，测试电路包括第一输入端子、第二输入端子以及第一数据线和第二数据线。其中，阵列基板上设置有第一信号线和第二信号线，第一输入端子通过多条第一数据线分别与第一信号线电连接，且第二输入端子通过第二数据线与第二信号线面接触电连接，从而通过改变布线的排布，有效的改善显示面板在测试时电压输入端容易产生较大热量的问题，并提高面板的性能。

技术领域

本发明涉及显示面板制造技术领域，特别是涉及一种显示面板及测试装置。

背景技术

随着显示技术的不断提升，人们对显示装置的性能以及质量均提出了更高的要求。

有机发光二极管(organic light-emitting diode，OLED)显示技术相比于液晶显示器(liquid crystal display，LCD)，具有自发光、轻薄以及响应速度快的特点，被广泛应用于透明显示和柔性显示装置中。显示装置在制备过程中需要经过寿命老化((lifetime-aging，l-aging)工艺以及点亮测试，以确保显示装置的性能并提高其可靠性。但是，现有工艺在对显示面板进行点亮测试时，在测试初期，测试装置的电源输入端附近温度往往会过高，过高的温度很容易对输入端附件的膜层造成损坏，另一方面，由于老化装置的电源VDD输入端与Vss输入端比较靠近，二者共同产生的热量会造成累加，会进一步恶化对产品造成的不良影响。虽然老化装置的电压输入端附件的温度在一定范围内可控，但是由于电源输入端近端和远端位置的不同，流经发光器件上的电流密度是不均衡的。其中，电源输入端近端压差大，电流大，温度较高；远端则相反，远端与近端之间较大的差异影响了产品的老化测试效果。

综上所述，在对显示器件进行寿命老化工艺时，在测试初期，显示面板及装置靠近电源输入端的温度过高并且电流密度较大，而远离电源输入端的区域内的电流密度较小，进而出现温度和电压的差异，进而对器件的品质和良率造成影响。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及测试装置，以有效的改善显示面板在点亮及老化工艺时，在电源输入端的不同区域内电压之间的差异，在靠近电源输入端区域的电压以及温度过高，远离电源输入端的电压较小的问题，从而有效的提高产品的品质和良率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供的技术方法如下：

本发明实施例的第一方面，提供了一种显示面板，包括：

显示区和非显示区，所述非显示区设置在所述显示区的一侧；

阵列基板，所述阵列基板的一侧设置有第一信号线和第二信号线，所述第一信号线设置在所述显示区的边缘，所述第二信号线设置在所述非显示区内；以及，

测试电路，所述测试电路设置在所述非显示区内，所述测试电路包括第一输入端子、第二输入端子以及与所述第一输入端子电连接的第一数据线，与所述第二输入端子电连接的第二数据线；

其中，所述第一输入端子通过至少两条所述第一数据线分别与所述第一信号线电连接，且所述第二输入端子通过所述第二数据线与所述第二控制信号线面接触电连接。

根据本发明一实施例，所述非显示区包括绑定区和端子切除区，所述端子切除区设置在所述绑定区的一侧，且所述第二信号线对应设置在所述绑定区内。

根据本发明一实施例，所述第一信号线和所述第二信号线互不重合。

根据本发明一实施例，所述第一输入端子为高电平信号输入端，所述第二输入端子为低电平信号输入端。

根据本发明一实施例，所述第一输入端子通过所述第一数据线为所述第一信号线输入高电平信号，所述第二输入端子通过所述第二数据线为所述第二信号线输入低电平信号。

根据本发明一实施例，所述第二数据线与所述第二信号线的连接区域为梯形的连接区域。