[发明专利]一种数学形态学自适应结构元素构造方法在审

专利信息
申请号: 202110577266.2 申请日: 2021-05-26
公开(公告)号: CN113393387A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 房超;王小鹏 申请(专利权)人: 房超
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 彭思思
地址: 730070 甘*** 国省代码: 甘肃;62
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 数学 形态学 自适应 结构 元素 构造 方法
【权利要求书】:

1.一种数学形态学自适应结构元素构造方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:构造两个3×3大小的掩膜SE与M;

S2:以原始图像f(3,3)作为SE的中心像素点在原始图像中选取的3×3子区域记为QSE,SE用于构造自适应结构元素;

S3:以QSE中的第一个像素点作为M的中心像素点在原始图像中选取3×3子区域记为QM,M用于检测QSE中的所有像素点是否为边界点;

S4:利用基于邻域灰度差变化矢量场方法对QM进行平滑处理;

S5:利用基于相对密度的边界度函数判定QM的中心像素点是否为边界点;

S6:将M进行距离为单位像素的平移,获取新的3×3子区域QM,并进行S4与S5的运算,直到QSE中的所有像素点完成边界点判定为止,QSE中判定出的所有强边界点构成了结构元素TSE

S7:将SE进行距离为单位像素的平移,获取新的3×3子区域QSE,并进行步骤S3至步骤S6的运算,直到原始图像中的所有像素点遍历分析完成为止,获取的全部结构元素TSE的集合构成了所需的自适应结构元素。

2.根据权利要求1所述的一种数学形态学自适应结构元素构造方法,其特征在于:所述步骤S4中利用基于邻域灰度差变化矢量场方法对QM进行平滑处理的具体过程如下步骤:

S401:在选取的3×3大小的图像子区域QM中,以中心像素点为基准,依次计算其邻域每个像素点与中心像素点的灰度差,记为g(x±k,y±k)(k=0,1),构成3×3大小邻域灰度差矩阵;

S402:对获取的邻域灰度差序列进行4个方向上的灰度采样,获取邻域灰度差变化矢量,其中该矢量用ai(i=0,1,2,3)表示,计算如下:

S403:相互正交邻域灰度差变化矢量可以作为区分目标边缘与目标内部的重要依据,计算出邻域灰度差变化矢量后,其正交差异对和最小正交差异对定义如下:

v=min|d0,d1| (3)

其中,d0为0与2方向的正交差,d1为1与3方向的正交差,v为最小正交差;

S404:依据最小正交差异对,获取图像平滑处理所需阈值,该阈值根据各个子区域QM的最小正交差异对的不同自适应变化;

若最小正交差异对值为d0,则阈值τ为0方向与2方向所有邻域灰度差值之和与0方向与2方向邻域灰度差值不为零的元素的个数总和的商;若最小正交差异对的值为d1,则阈值τ为1方向与3方向所有邻域灰度差值之和与1方向与3方向邻域灰度差值不为零的元素的个数总和的商;若最小正交差异对的值为d0=d1,则阈值τ为4个方向所有邻域灰度差值之和与4个方向邻域灰度差值不为零的元素的个数总和的商;

S405:利用获取的自适应阈值,对子区域进行平滑处理,计算该子区域QM每个像素点与中心像素点的灰度差值并于阈值τ进行比较,若差值小于或等于阈值τ,则判定该像素与中心像素相似,该点像素的灰度值由中心像素点的灰度值代替,否则其灰度值保持不变。

3.根据权利要求1所述的一种数学形态学自适应结构元素构造方法,其特征在于:所述步骤S5中边界点具体判断过程如下:

S501:灰度值赋值:将平滑处理后子区域QM中的所有像素点的灰度值重新赋值,即:灰度值等于中心像素点灰度值的像素点赋值为1,其余像素点赋值为0;

S502:定义边界度函数:为了判断3×3子区域QM像素密度分布的聚集程度,以3×3子区域QM中心点像素为基点按照方向的不同,由左上、右上、左下、右下像素构成的大小为2×2的掩膜及0方向与2方向像素、1方向与3方向像素构成的掩膜,如图4所示,记为Si(i=1,2,3,4,5,6),依据分类归纳法定义边界度函数,其表达式为:

式中:DM为子区域QM的密度,是3×3子区域中灰度值为1的像素点个数之和称;Di(i=1,2,3,4,5,6)为Si(i=1,2,3,4,5,6)的密度,是Si(i=1,2,3,4,5,6)中灰度值为1的像素点的个数;

S503:检测边界点:计算3×3子区域QM的密度DM及Si(i=1,2,3,4,5,6)掩膜的密度Di(i=1,2,3,4,5,6),利用边界度函数判定QM的中心像素点是否为边界点,然后以单位像素距离平移M获取新的子区域QM,继续利用上述过程判定QM的中心像素点是否为边界点,直到3×3子区域QSE内的全部像素点判定完成为止,并将判定出3×3子区域QSE内的强边界点作为构成自适应结构元素的要素。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于房超,未经房超许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110577266.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top