[发明专利]一种基于太赫兹扫描技术的绝缘子内部成像方法

权利要求书

1.一种基于太赫兹扫描技术的绝缘子内部成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、利用太赫兹技术对绝缘子进行扫描；

S2、在采集与重建的过程中利用拉东变换进行建模，如下所示：

其中θ和ρ分别为投影线(θ，ρ)的角坐标和径向坐标，δ(·)为脉冲函数，R_θ(ρ)是投影线经过的所有点的吸收总和，通过逆向重构从投影中重新获得原始函数f，扫描图像由无数个投影数据组成，即θ∈[0,π]且反演公式如下：

F是傅里叶变换，反演过程在每个投影都用一个Ramp滤波函数来增加细节，综合滤波后的投影可计算出点(x,y)的值；

采用傅里叶切片定理对原函数的二维傅里叶变换进行反演，傅里叶切片定理规定f(x,y)沿着角θ的投的一维傅里叶变换对应于f沿相同的角θ在傅里叶空间的一条直线，当利用极坐标表示函数f，时，式(1)写为：

投影R_θ(ρ)的一维傅里叶变换为：

与(3)式相结合得：

由于当时，脉冲函数不为0，上式简化为：

考虑到二维傅里叶变化f在极坐标X＝vcosψ和Y＝vsinψ的情况：

从投影傅里叶变换数据中获得原始函数的二维傅里叶变换，再通过二维傅里叶逆变换得到原始函数，此原始函数即为样品的层析图像；

S3、利用插值算法扩充实验数据，使成像结果更加清晰，具体为：

扫描区域较小同时扫描点间隔较近，插值方法采用最近邻插值方法，利用采样点之间的数据间隔对采样点像素进行线性组合，得到目标的像素值，计算公式如下：

其中P₁，P₂为图像数据中同一圆周上两个相邻的采样点，N为两点间间隔的总插值个数，插补像素值为P₁，P₂点像素值的线性组合。