[发明专利]数据处理方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种数据处理方法，由多方节点中的任一节点执行，包括：

根据本机节点的第一样本数据的初始统计值的偏离秘密，以及获取的所述多方节点中其他节点各自的第二样本数据的初始统计值的偏离秘密，确定目标统计值；

根据所述目标统计值，对所述第一样本数据进行标准化处理；

其中，所述目标统计值包括所述多方节点的全部样本数据在预定特征维度下的特征总均值、特征总方差和特征总标准差中的至少一种。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述初始统计值的偏离秘密包括样本数量的偏离秘密和所述预定特征维度下的特征和值的偏离秘密；

所述根据本机节点的第一样本数据的初始统计值的偏离秘密，以及获取的所述多方节点中其他节点各自的第二样本数据的初始统计值的偏离秘密，确定目标统计值，包括：

根据所述第一样本数据的样本数量的偏离秘密，以及获取的各所述第二样本数据的样本数量的偏离秘密，确定样本总数量；以及，根据所述第一样本数据在所述预定特征维度下的特征和值的偏离秘密，以及获取的各所述第二样本数据在对应特征维度下的特征和值的偏离秘密，确定所述预定特征维度下的特征总和值；

根据所述样本总数量和所述预定特征维度下的特征总和值，确定所述预定特征维度下的特征总均值。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述初始统计值的偏离秘密包括样本数量的偏离秘密；

所述根据本机节点的第一样本数据的初始统计值的偏离秘密，以及获取的所述多方节点中其他节点各自的第二样本数据的初始统计值的偏离秘密，确定目标统计值，包括：

根据所述第一样本数据的样本数量的偏离秘密，以及各所述第二样本数据的样本数量的偏离秘密，确定样本总数量；

根据所述样本总数量和所述第一样本数据在所述预定特征维度下的特征和值，确定所述第一样本数据在所述预定特征维度下的模拟特征均值；

根据所述第一样本数据在所述预定特征维度下的模拟特征均值的偏离秘密，以及获取的各第二样本数据在相应特征维度下的模拟特征均值的偏离秘密，确定所述预定特征维度下的特征总均值。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述初始统计值的偏离秘密包括样本数量的偏离秘密和所述预定特征维度下的特征偏离和值的偏离秘密；

所述根据本机节点的第一样本数据的初始统计值的偏离秘密，以及获取的所述多方节点中其他节点各自的第二样本数据的初始统计值的偏离秘密，确定目标统计值，包括：

根据所述第一样本数据的样本数量的偏离秘密，以及获取的各所述第二样本数据的样本数量的偏离秘密，确定样本总数量；以及，根据所述第一样本数据在所述预定特征维度下的特征偏离和值的偏离秘密，以及获取的各所述第二样本数据在对应特征维度下的特征偏离和值的偏离秘密，确定所述预定特征维度下的特征偏离总和值；

根据所述样本总数量和所述预定特征维度下的特征偏离总和值，确定所述预定特征维度下的特征总标准差和/或特征总方差。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述初始统计值的偏离秘密包括样本数量的偏离秘密；

所述根据本机节点的第一样本数据的初始统计值的偏离秘密，以及获取的所述多方节点中其他节点各自的第二样本数据的初始统计值的偏离秘密，确定目标统计值，包括：

根据所述第一样本数据的样本数量的偏离秘密，以及获取的各所述第二样本数据的样本数量的偏离秘密，确定样本总数量；

根据所述样本总数量和所述第一样本数据在所述预定特征维度下的特征偏离和值，确定所述第一样本数据在所述预定特征维度下的模拟特征方差；

根据所述第一样本数据在所述预定特征维度下的模拟特征方差的偏离秘密，以及获取的各第二样本数据在相应特征维度下的模拟特征方差的偏离秘密，确定所述预定特征维度下的特征总标准差和/或特征总方差。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其中，样本数据包括样本特征数据和/或标签特征数据；所述样本数据包括所述第一样本数据和所述第二样本数据。