[发明专利]一种基于400G光模块的测试方法及测试电路

说明书

本发明公开了一种基于400G光模块的测试方法，其中：包括，上位机控制标准光电模块工作于伪随机码模式和误码检测模式，通过标准光电模块替代高端误码仪，同时标准光电模块和待测光电模块均设置于同一个生产测试板上，采用16对高速电差分信号组即可连接，无需32个昂贵的射频连接线，通过上述连接方式，实现对400G光模块的生产测试，既节省了高端误码仪、32个昂贵的射频连接线，也大大降低了测试板的更换成本。

技术领域

本发明涉及光电测试领域，具体涉及一种基于400G光模块的测试方法及测试电路。

背景技术

随着数据中心规模的扩大和升级，400G QSFP-DD/OSFP光模块越来越普及。400G光模块的生产测试需要专业的高端误码仪，如图1所示，将400G光模块待测模块插装于400G生产测试板上，然后通过16根射频线接收高端误码仪发送的差分信号，400G光模块接收该差分信号，同时对该差分信号做电光转化，转化完成后再通过光纤自环从400G光模块待测模块的光发射端口送给400G光模块待测模块的光接收端口，400G光模块接收该光信号并做光电转化为8对差分电信号，然后通过16根射频线发送至高端误码仪，高端误码仪根据接收的信号做分析处理以得到一个测试结果。目前一台高端误码仪通常需要几十万到上百万元，同时测试板需要有32路昂贵的射频连接线，每路射频连接线需要近千元人民币，测试板的光模块连接器有一定的插拔次数寿命限制，生产测试过程中需要定期不断更换测试板，成本非常高。基于现有的测试装置，其具体的测试方法为：高端误码仪发送相应的误码信号，待测光电模块接收到相应的误码信号，并将误码信号回转至高端误码仪，高端误码仪根据接收的信号做分析处理以得到一个测试结果。

发明内容

基于上述技术缺点，一种基于400G光模块的测试方法及测试电路，具体地：

一方面，本发明提供一种基于400G光模块的测试方法，其中：包括，

通过第一预定指令形成伪随机码产生控制指令，于所述伪随机码产生控制指令的作用下控制标准光电模块工作于伪随机码模式，所述标准光电模块产生伪随机码并发送；控制温控台工作于第一温度状态下，对所述待测光电模块做校准操作；

上位机设置温控台工作于第二温度状态下，通过第二预定指令形成第一测试控制指令，于所述第一测试控制指令的作用下控制待测光电模块做测试以形成第一测试结果、第二测试结果输出；

上位机设置温控台工作于第三温度状态下，通过第三预定指令形成第三测试控制指令，于所述第三测试控制指令的作用下控制待测光电模块做测试以形成第三测试结果、第四测试结果输出；

上位机设置温控台工作于第一温度状态下，通过第四预定指令形成第四测试控制指令，于所述第四测试控制指令的作用下控制待测光电模块做测试以形成第五测试结果、第六测试结果输出；

根据第一测试结果、第二测试结果、第三测试结果、第四测试结果、第五测试结果、第六测试结果形成一检测结果。

优选地，上述的一种基于400G光模块的测试方法，其中：通过第一预定指令形成伪随机码产生控制指令，于所述伪随机码产生控制指令的作用下控制标准光电模块工作于伪随机码模式，所述标准光电模块产生伪随机码并发送；控制温控台工作于第一温度状态下，对所述待测光电模块做校准操作具体包括：

于待测光电模块插入预定位置的状态，上位机读取并记录待测光电模块的类型、P/N信息和S/N信息；上位机通过I2C指令配置标准光电模块为误码检测模式，并设置标准光电模块的发射端输出SSPRQ模式的伪随机码；

上位机设置温控台的工作于第一温度状态下，使待测光电模块的外壳温度保持在40℃，

上位机通过I2C指令对待测光电模块进行校准操作，校准数据至少包括发射端眼图，发射光功率，发射光功率监测，接收光功率监测，温度监测，电压监测，接收无光告警电平和消除电平。