[发明专利]一种测试治具和测试系统

权利要求书

1.一种测试治具，其特征在于，包括：

PCB板，所述PCB上设置有金手指，其中所述PCB板通过所述金手指与待测装置的插槽连接；

多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；

多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；

切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指预定引脚连接，所述金手指预定引脚用于与所述待测装置的插槽的69号引脚对应连接；

其中，所述切换模块配置为在第一状态下与地线断开连接，69号引脚断开与地的连接从而为高电平，进而使所述待测试装置发出PCIE信号；在第二状态下与所述地线连接，69号引脚恢复与地的连接从而为低电平，进而使待测试装置发出SATA信号。

2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括：

滑盖，所述滑盖与所述PCB板活动连接。

3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，还包括：

指示灯，连接到所述切换模块以用于指示所述切换模块的状态。

4.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括：

多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；

多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；

其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。

5.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；

其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。

6.一种测试系统，其特征在于，包括具有插槽的待测试装置和测试治具；其中，所述测试治具包括：

PCB板，所述PCB上设置有金手指，所述PCB板通过所述金手指插入所述插槽中；

多个PCIE信号测试端子，每一个所述PCIE信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；

多个SATA信号测试端子，每一个所述SATA信号测试端子均设置在所述PCB板上且与所述金手指对应的引脚连接；

切换模块，设置在所述PCB板上且与所述金手指预定引脚连接，所述金手指预定引脚用于与所述待测装置的插槽的69号引脚对应连接；

其中，所述切换模块配置为在第一状态下与地线断开连接，69号引脚断开与地的连接从而为高电平，进而使所述待测试装置发出PCIE信号；在第二状态下与所述地线连接滑盖，69号引脚恢复与地的连接从而为低电平，进而使待测试装置发出SATA信号。

7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述滑盖与所述PCB板活动连接。

8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，还包括：

指示灯，连接到所述切换模块以用于指示所述切换模块的状态。

9.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括：

多个第一引线，每一个所述第一引线用于连接相应的PCIE信号测试端子和所述金手指的引脚；

多个第二引线，每一个所述第二引线用于连接相应的SATA信号测试端子和所述金手指的引脚；

其中，所述第一引线和所述第二引线布置在所述PCB板的不同层上。

10.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述金手指包括第一部分金手指、第二部分金手指和第三部分金手指；

其中，所述第一部分金手指和所述第三部分金手指均与所述第二部分金手指分隔开。