[发明专利]基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法

权利要求书

1.基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法，其中星敏系统由第一分系统和第二分系统并联组成，其中第一分系统和第二分系统均由星敏感器和星敏线路串联组成，其特征在于，包括如下步骤：

S1. 根据星敏感器和星敏线路的寿命数据，分别确定星敏感器和星敏线路寿命分布的分布函数，将星敏感器和星敏线路寿命分布的分布函数向串联结构折算，确定第一分系统和第二分系统寿命的折算分布；

记t时刻星敏感器的寿命分布的分布函数为，其中为星敏感器的寿命分布的分布参数；t时刻星敏线路的寿命分布的分布函数为，其中为星敏线路的寿命分布的分布参数；

第一分系统寿命的折算分布的分布函数为：

第一分系统寿命的折算分布的概率密度函数为：

第二分系统寿命的折算分布的分布函数，第二分系统寿命的折算分布的概率密度函数；

S2. 根据第一分系统和第二分系统的寿命数据，分别确定第一分系统和第二分系统寿命的本级分布；

第一分系统寿命的本级分布的概率密度函数为，其中为第一分系统寿命的本级分布的分布参数，第二分系统寿命的本级分布的概率密度函数为，其中为第二分系统寿命的本级分布的分布参数；

S3. 对第一分系统和第二分系统寿命的折算分布进行近似，获得第一分系统和第二分系统寿命的近似分布，且使得第一分系统和第二分系统寿命的近似分布与第一分系统和第二分系统寿命的本级分布的分布类型相同；其中对第一分系统寿命的折算分布进行近似的方法是：根据第一分系统寿命的折算分布的进行抽样，再利用极大似然法求样本的极大似然估计，得到第一分系统寿命的近似分布，第一分系统寿命的近似分布的概率密度函数为，其中为第一分系统寿命的近似分布的分布参数；采用相同的近似方法，得到第二分系统寿命的近似分布，得到第二分系统寿命的近似分布的概率密度函数为，其中为第二分系统寿命的近似分布的分布参数；

S4. 综合第一分系统和第二分系统寿命的近似分布和本级分布，基于第一分系统和第二分系统寿命的综合分布求得系统寿命的综合分布，进而得到星敏系统在任意时刻的可靠度，其中综合第一分系统寿命的近似分布和本级分布得到第一分系统寿命的综合分布的分布函数为，第一分系统寿命的综合分布的概率密度函数为，其中为第一分系统寿命的综合分布的分布参数，；

综合第二分系统寿命的近似分布和本级分布得到第二分系统寿命的综合分布的分布函数为，第二分系统寿命的综合分布的概率密度函数为，其中为第二分系统寿命的综合分布的分布参数，。

2.根据权利要求1所述的基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法，其特征在于：S1中星敏感器和星敏线路的寿命数据分别通过随机抽取一定数量的星敏感器和星敏线路作为样品进行寿命试验获得。

3.根据权利要求1所述的基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法，其特征在于：S2中第一分系统和第二分系统的寿命数据分别通过随机抽取一定数量的第一分系统和第二分系统样品进行寿命试验获得。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法，其特征在于：S4中星敏系统在任意时刻的可靠度通过以下步骤获得：

将第一分系统和第二分系统寿命分布的综合分布向并联结构折算，确定星敏系统寿命的折算分布的分布函数；

根据星敏系统的寿命数据，确定星敏系统寿命的本级分布；

对星敏系统寿命的折算分布进行近似，获得星敏系统寿命的近似分布，且使得星敏系统寿命的近似分布与星敏系统寿命的本级分布的分布类型相同；

综合星敏系统寿命的近似分布和本级分布，得到星敏系统寿命的综合分布的概率密度函数，进而得到星敏系统在时刻处的可靠度。

5.根据权利要求4所述的基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法，其特征在于：S4中星敏系统的寿命数据分别通过随机抽取一定数量的星敏系统样品进行寿命试验获得，利用星敏系统的寿命数据确定星敏系统寿命的本级分布。