[发明专利]对象测试方法、测试系统、电子设备及可读存储介质

说明书

本公开提供了一种对象测试方法，该方法可用于金融领域、计算机技术领域或其他领域。该方法包括获取与待测试对象相关联的目标数据；将目标数据导入至第一存储资源池中；获取目标数据的存储信息，其中，存储信息包括：初始存储位置信息、数据来源信息和数据存储时间；根据存储信息对目标数据进行脱敏处理，输出脱敏数据；根据脱敏数据对待测试对象进行测试。本公开还提供了一种对象测试系统、电子设备、可读存储介质及计算机程序产品。

技术领域

本公开涉及金融领域及计算机技术领域，更具体地，涉及一种对象测试方法、测试系统、电子设备、可读存储介质及计算机程序产品。

背景技术

在计算机系统和软件的测试过程中，需要大量的数据进行模拟测试，测试数据一般可以通过在实际生产数据中获取。通过在生产数据中获取的测试数据能够更好的反应系统和软件的性能等情况。

在实现本公开构思的过程中，发明人发现相关技术中至少存在如下问题，由于在企业中生产环境与测试环境隔离，在将生产环境中的数据导入至测试环境中时，需要对数据进行多次拷贝，导致测试效率低下。

发明内容

有鉴于此，本公开提供了一种对象测试方法、测试系统、电子设备、可读存储介质及计算机程序产品。

本公开的一个方面提供了一种对象测试方法方法，包括：

获取与待测试对象相关联的目标数据；

将所述目标数据导入至第一存储资源池中；

获取所述目标数据的存储信息，其中，所述存储信息包括：初始存储位置信息、数据来源信息和数据存储时间；

根据所述存储信息对所述目标数据进行脱敏处理，输出脱敏数据；

根据所述脱敏数据对所述待测试对象进行测试。

根据本公开的实施例，所述获取与待测试对象相关联的目标数据包括：

获取测试请求信息，其中，所述测试请求信息包括与所述待测试对象相关联的测试信息；

响应于所述测试请求信息，根据所述测试信息获取与所述待测试对象相关联的所述目标数据。

根据本公开的实施例，所述根据所述存储信息对所述目标数据进行脱敏处理，输出脱敏数据包括：

获取所述存储信息中与所述目标数据相关联的初始存储位置信息；

根据所述初始存储位置信息，获取所述目标数据；

对所述目标数据进行脱敏处理，得到所述脱敏数据；

输出所述脱敏数据。

根据本公开的实施例，所述根据所述初始存储位置信息，获取所述目标数据包括：

调用存储接口，访问所述第一存储资源池中与所述初始存储位置信息相对应的目标存储位置；

根据所述目标存储位置，获取所述目标数据。

根据本公开的实施例，所述对所述目标数据进行脱敏处理包括：

获取与所述目标数据相关联的结构化查询语言数据；

根据所述结构化查询语言数据，确定所述目标数据中的库名信息；

根据脱敏策略对所述库名信息进行脱敏处理。

根据本公开的实施例，该对象测试方法还包括：

根据所述结构化查询语言数据，创建与所述目标数据相关联的数据表模板；

将所述目标数据中与所述数据表相关联的数据信息填充至所述数据表模板中，得到与所述目标数据相关联的数据表；