[发明专利]一种便携式光谱分析仪校验准块在审

专利信息
申请号: 202110483122.0 申请日: 2021-04-30
公开(公告)号: CN113092391A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 吴宝围;王方方;贺锡鹏;肖震;张力;纪园园;苏润 申请(专利权)人: 西安热工研究院有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/25
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 闵岳峰
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 便携式 光谱分析 校验
【说明书】:

发明公开了一种便携式光谱分析仪校验准块,包括底座和试块,底座为长方体,在长方体上表面加工有若干个均匀布置的圆柱孔,每个圆柱孔内加工有内螺纹,试块外表面上加工有外螺纹,每个试块能够通过螺纹连接安装在底座的圆柱孔中。本发明可用于电力、石油、化工、工程机械、冶金、铸造、机械加工、特种设备、航空等行业的材料检验,也可用于生产过程质量控制和产品验收,如焊材区分、合金元素分析、金属材质粗定等,具有体积小、携带方便、每个试块可灵活安装拆卸并更换不同的材质试块,满足现场使用需求等特点。

技术领域

本发明涉及一种便携式光谱分析仪校验准块,其可拆卸并适用于校验多种不同材质的光谱分析仪校验试块,可用于电力、石油、化工、工程机械、冶金、铸造、机械加工、特种设备、航空等行业的材料检验,也可用于生产过程质量控制和产品验收,如焊材区分、合金元素分析、金属材质粗定等,其特征在于体积小、便于携带、试块可根据实际需求随时拆卸替换,同时现场可随时校验多种不同材质,确保光谱仪的准确度。

背景技术

光谱分析是利用待检材料中原子(或离子)发射的特征线光谱,或某些分子(或基团)所发射的特征带光谱的波长和强度,来分析元素的存在及其含量的方法,目前常使用的分析方法为使用手持式合金分析仪或直读式火花光谱仪对材质进行分析。

在各个行业中,时有发生因缺少材质分析这一环节导致材料错用、混用,特别在焊接方面,焊接材质用错导致缝强度不足、焊接质量不高产生焊接缺陷,从而造成事故,危及人身及财产安全,因此使用光谱分析仪对材质进行鉴别和分析就显得至关重要,而手持式合金分析仪或直读式火花光谱仪对材质进行分析时,必须用与所检试样相同或相近的试块对光谱分析仪进行校准,确保光谱分析仪的准确度,从而可靠判断鉴别各种材质,但是现有的光谱分析检验试块体积较大,每一个试块都装一个盒子比较占地方,且携带的一个试块只能校验一种材质,需校验多种材质时需整体携带多个试块,及其不便又容易漏带、忘带及丢失,给检验人员带来极大的不便。

发明内容

针对以上存在的缺陷及问题,本发明目的在于克服现有试块的不足,提供一种便携式光谱分析仪校验准块,其结构紧凑体积小不占地方,一个试块可校验多种材质同时根据实际需求可方便拆卸替换,避免了单个试块漏带、忘带及丢失,在一定程度上可提高生产工作效率。

为实现以上目的,本发明采用以下技术方案:

一种便携式光谱分析仪校验准块,包括底座和试块,底座为长方体,在长方体上表面加工有若干个均匀布置的圆柱孔,每个圆柱孔内加工有内螺纹,试块外表面上加工有外螺纹,每个试块能够通过螺纹连接安装在底座的圆柱孔中。

本发明进一步的改进在于,底座是一个长70mm,宽70mm,厚度10mm的正方体。

本发明进一步的改进在于,在长方体上表面加工有9个圆柱孔。

本发明进一步的改进在于,圆柱孔的深度为2mm。

本发明进一步的改进在于,9个圆柱孔呈9宫格分布。

本发明进一步的改进在于,试块为直径20mm的圆柱体。

本发明进一步的改进在于,试块的高度为25mm。

本发明进一步的改进在于,一个底座上能够同时安装9个不同材质的试块。

本发明进一步的改进在于,每个试块上刻有标示号。

具体的,本发明至少具有如下有益的技术效果:

1、整个试块体积小,携带方便;

2、每个试块底座上可安装9个不同材质的试块,满足现场多种材质的检验需求;

3、试块和底座通过螺纹连接,方便拆卸,同时可根据现场需求随时更换不同材质的试块;

4、通过试块的校验,保证光谱仪的检测灵敏度。

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