[发明专利]一种转接装置、电子设备及测试方法在审

专利信息
申请号: 202110452891.4 申请日: 2021-04-26
公开(公告)号: CN113328308A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 武岳;代启龙;赵刚;金火星;朱燕俊 申请(专利权)人: 合肥联宝信息技术有限公司
主分类号: H01R31/06 分类号: H01R31/06;G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 代理人: 江宇
地址: 230000 安徽省合肥市经*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 转接 装置 电子设备 测试 方法
【说明书】:

发明公开了一种转接装置、电子设备及测试方法,转接装置包括主体部、第一连接部和第二连接部,第一连接部设置于主体部的第一端,以用于与LCD显示屏的连接器母端电连接;第二连接部设置于主体部的第二端,且第二连接部与第一连接部电连接,第二连接部用于与测试设备电连接。具体使用时,首先通过将第一连接部与LCD显示屏的连接器母端电连接,从而与LCD显示屏形成一个整体;然后,利用第二连接部不断与测试设备电连接,以完成不同的插拔测试。由于在测试过程中,与测试设备不断插拔的是第二连接部,因此,对于LCD显示屏本身不会造成损伤,减少了LCD显示屏维修或报废的情况,从而提高了LCD显示屏测试的安全性。

技术领域

本发明涉及电子产品领域,尤其涉及一种转接装置、电子设备及测试方法。

背景技术

随着显示屏轻型化和薄型化的趋势,LCD显示屏的连接器的设计也在往薄型化、窄Pitch、Pin数多的方向发展。相对于正常厚度的连接器结构,相应的pin数和塑胶件都比较薄,强度也会弱于普通的连接器,这就对插拔的作业要求越来越高。

目前,每片显示屏随着生产制程会进行多次的插拔测试,薄型化窄pitch的连接器经过多次插拔后容易造成连接器内部结构损伤或公头损伤端残留在母头内,从而使得被测产品报废率较高,产品测试的安全性较低。

发明内容

本发明提供一种转接装置、电子设备及测试方法,以提高LCD显示屏测试的安全性。

为了实现上述技术目的,本发明采用下述技术方案:

本发明技术方案的第一方面,提供一种转接装置,包括:

主体部;

第一连接部,设置于所述主体部的第一端,以用于与LCD显示屏的连接器母端电连接;

第二连接部,设置于所述主体部的第二端,且所述第二连接部与所述第一连接部电连接,所述第二连接部用于与测试设备电连接。

优选的,所述主体部为PCB板,所述PCB板的第一端具有多个连接端子,以形成所述第一连接部。

优选的,所述主体部为软排线,所述第一连接部为与所述连接器母端对应的连接器公端。

优选的,所述软排线的外围包裹有屏蔽件,以屏蔽外界电信号。

优选的,所述屏蔽件至少包括静电布。

优选的,所述第二连接部为厚度不小于1mm的连接器。

优选的,所述第二连接部上设有压力传感器,以检测所述测试设备插入所述第二连接部的压力值。

本发明技术方案的第二方面,提供一种电子设备,包括:LCD显示屏和所述的转接装置;

所述LCD显示屏具有连接器母端,所述转接装置的第一连接部与所述连接器母端电连接,所述转接装置的第二连接部用于与测试设备电连接。

优选的,所述LCD显示屏上具有第一扣合部,所述转接装置上设有第二扣合部,所述第一扣合部与所述第二扣合部相互扣合或相互分离,以限制所述LCD显示屏与所述转接装置的相对位置或解除对所述LCD显示屏与所述转接装置的位置限定。

本发明技术方案的第三方面,提供一种利用所述转接装置的测试方法,包括以下步骤:

将转接装置的第一连接部与LCD显示屏的连接器母端相连接,以使所述LCD显示屏与所述转接装置形成一个整体结构;

将转接装置与LCD显示屏所形成的整体结构放置在生产线上,以使得所述整体结构随着生产线的流动依次经过多个测试工位;

当所述整体结构经过任一测试工位处时,将测试设备与转接装置的第二连接部电连接,以完成该测试工位的测试,并在测试完成后将第二连接部与测试设备分离;

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