[发明专利]限幅天线测试系统和方法有效

专利信息
申请号: 202110435729.1 申请日: 2021-04-22
公开(公告)号: CN113125863B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 邓博文;林铭团;毋召锋;张继宏;查淞;刘培国 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 代理人: 邱轶
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 限幅 天线 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种限幅天线测试系统,其特征在于,所述限幅天线测试系统包括:主通路、标定模块以及待测限幅天线;

所述主通路,包括信号源、功率放大器、定向耦合器、环形器、第二衰减器以及第二频谱仪;所述主通路用于通过所述信号源产生特定脉宽、频率、重频的信号,并通过所述功率放大器对所述信号进行功率放大,被放大的信号经过所述定向耦合器进入所述环形器的第一端口,由所述环形器的第三端口通过所述第二衰减器进入所述第二频谱仪,并通过所述环形器的第二端口给所述标定模块和所述待测限幅天线提供功率连续变化的信号;

所述标定模块,包括第一衰减器和第一频谱仪;

当所述系统工作在标定模式时:所述主通路的输出端通过所述第一衰减器与所述第一频谱仪电连接组成标定通路,所述标定通路用于对所述环形器的第二端口和第三端口进行标定,得到所述环形器的第二端口和第三端口的标定功率;

当所述系统工作在限幅天线的性能测试模式时,所述主通路的输出端与所述待测限幅天线电连接组成性能测试通路;所述性能测试通路用于按照所述标定功率由小到大顺序调节所述信号源的输出功率,并通过所述第二频谱仪记录所述环形器的第三端口的功率;根据所述环形器的第三端口的功率、所述第一衰减器以及所述环形器的第二端口的标定功率,得到所述待测限幅天线的反射系数随所述待测限幅天线输入功率的关系曲线,并对所述关系曲线进行分析,得到所述待测限幅天线的启动阈值与隔离度。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,当所述系统工作在限幅天线的性能测试模式时,所述性能测试通路还用于通过根据所述待测限幅天线损坏时的输入功率,确定所述待测限幅天线的最大耐受功率。

3.一种限幅天线测试方法,其特征在于,方法应用于权利要求1-2任一项所述幅天线测试系统中实现待测限幅天线的测试;所述方法包括:

限幅天线测试系统标定步骤:

将主通路与标定模块电连接;

由小到大逐步增加调节信号源的输出功率,并记录信号源输出功率、第一频谱仪的功率以及第二频谱仪的功率;

根据所示信号输出源功率、第一衰减器值、所述第一频谱仪的功率、第二衰减器值以及第二频谱仪的功率,得到环形器的第二端口和第三端口的标定功率;

限幅天线测试步骤:

所述限幅天线测试系统标定完成后,撤除标定模块,将主通路与待测限幅天线电连接;

按照所述环形器的第二端口和第三端口的标定功率,由小到大逐步增加信号源输出功率,并记录第二频谱仪的测试功率,直到待测限幅天线明显损坏时停止实验;

根据第二衰减器的衰减值和所述第二频谱仪的测试功率,得到待测限幅天线的反射功率;

根据第一衰减器的衰减值和与信号源输出功率对应的环形器的第二端口的标定功率,得到待测限幅天线的输入功率;

根据所述反射功率和所述输入功率,得到待测限幅天线的反射系数;

根据所述反射系数和所述待测限幅天线的输入功率,得到反射系数与待测限幅天线的输入功率的变化曲线;

对所述变化曲线进行分析,将所述变化曲线开始非线性增大时和发生损坏停止实验时的所述输入功率分别作为启动功率阈值和最大耐受功率阈值。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当外来电磁场的场强入射到待测限幅天线上时,根据电磁场的功率密度和限幅天线的有效接收面积,得到待测限幅天线的接收功率;

根据所述启动功率阈值、所述最大耐受功率阈值以及所述待测限幅天线的接收功率,得到对应的启动辐照场强阈值与最大耐受辐照场强阈值。

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