[发明专利]一种在产线测试中检测RAM的方法及系统

说明书

本发明提供一种在产线测试中检测RAM的方法，包括：数据下载站设定数据包并与检测设备建立连接；检测设备下载数据包前，随机从RAM中抽出单个数据存储单元，进行读写运算，检测RAM信息；检测设备下载数据包，并检测下载过程中RAM信息；在数据包下载后开机检查，通过信息摘要算法检测RAM在运算过程中信息；在老化站最大负载运行RAM，并通过信息摘要法运算以及对RAM内部剩余空间不断的运算，检测RAM在运算过程中信息；恢复出厂设置，重启检测RAM信息；显示检测结果。本发明通过将多种检测手段结合反复检测，在不增加检测周期的情况下能够最大概率的拦截不良RAM，解决了单次测试往往发现不了RAM故障的问题。

技术领域

本发明涉及嵌入式系统检测领域，具体涉及一种在产线测试中检测RAM的方法及系统。

背景技术

随着微处理器技术的发展，嵌入式处理器越来越多地应用于国民经济的各个领域。在各种嵌入式处理器中，RAM(Random Access Memory，随机存取存储器 )作为数据和程序的存储单元是一个重要的组成部分，RAM的正常与否，直接关系到嵌入式处理器能否正常工作，为了保证数据处理的正确性以及程序的正常运行，需要在嵌入式处理器工作之前对RAM进行检测。

以LPDDR3为例，内存芯片颗粒的生产，虽然经过层层检测，但总会有一定比例的不良品流出，特别是不同厂家的封测能力不同，不良的比例也会有很大差异。用了这种物料的产品，在生产过程中，产线也会设置很多工站检测其功能、性能，以保证产品出厂后的品质。检测站一般包括基本功能、功耗、射频性能、音频性能、拍照性能、防水、老化等主要站位，针对RAM器件的测试主要在老化站进行。老化站实际就是让产品在一定环境条件下，尽可能让产品主控芯片以最大负荷循环工作一定时间，以加速产品的使用强度，提前暴露问题，以期在生产线上拦截下不良品。但是老化一般是以固定的模式循环工作，这种模式不能覆盖RAM器件的最大寻址范围，导致检测不够全面，不能彻底的暴露问题。

而RAM的缺陷往往有个特点，不是稳定复现问题，所以单次测试往往发现不了，因此，需要一种尽可能的提高在产线测试中检测出不良RAM的方法。

发明内容

为解决现有技术中的问题，本发明提供一种在产线测试中检测RAM的方法及系统，通过将多种检测手段结合反复检测，在不增加检测周期的情况下能够最大概率的拦截不良RAM，解决了单次测试往往发现不了RAM故障的问题。

本发明的一种在产线测试中检测RAM的方法包括如下步骤：

步骤1：数据下载站设定数据包并与装有待测RAM的检测设备建立连接；

步骤2：检测设备随机从RAM所有区域中抽出一个或几个数据存储单元，进行读写运算，检测RAM是否存在故障；

步骤3：当检测设备随机从RAM所有区域中抽出一个或几个数据存储单元进行读写运算，未检测到RAM存在故障时，检测设备开始下载数据包，并检测下载过程中RAM是否有出现错误，数据下载站设定数据包为RAM运行所能接受的最大值；

步骤4：当检测设备检测到下载过程中RAM没有出现错误时，检测设备在数据包下载完成后进行开机检查，通过信息摘要算法检测RAM在运算过程中是否有出现错误；

步骤5：当检测设备在数据包下载完成后进行开机检查，通过信息摘要算法未检测到RAM在运算过程中有出现错误时，检测设备在老化站对RAM进行老化测试，长时间最大负载运行RAM，并通过信息摘要算法运算以及对RAM内部剩余空间不断的运算，检测RAM在运算使用过程中是否有出现错误；

步骤6：当检测设备在老化站对RAM进行老化测试，通过信息摘要算法运算以及对RAM内部剩余空间不断的运算，未检测到RAM在运算使用过程中有出现错误时，检测设备在老化测试完成后，恢复出厂设置，重启检测RAM是否存在故障；